Das metallurgische Mikroskop GP-L600-300C für die Wafer-Inspektion ist ein metallurgisches Wafer-Inspektionsmikroskop, das speziell für die Materialmikrostruktur entwickelt wurde Inspektion. Ausgestattet mit einem hochauflösenden optischen Reflektionslichtsystem und einer DIC-Differentialinterferenzfunktion erzeugt Stereoreliefbilder zur Beobachtung von Kornstrukturen, Rissen, Einschlüssen und Überzugsschichten von Metallen, Legierungen, Halbleiter und andere Materialien. Mit integrierter Industriekamera unterstützt es die Bilderfassung und die Anzeige auf dem Monitor Messung; Die Korngrößenauswertung ist mit optionaler unterstützender Software verfügbar. Weit verbreitet in Qualitätskontrolle, Fehleranalyse und materialwissenschaftliche Forschungsszenarien.
Dieses metallurgische Mikroskop zur Wafer-Inspektion eignet sich zur mikroskopischen Beobachtung metallografischer Mikrostrukturen und Oberflächenmorphologie. Es dient als ideales Forschungsinstrument für die Disziplinen Metallurgie, Mineralogie und Feinmechanik.
1. Binokulare Beobachtung plus synchrone elektronische Beobachtung:Okularansicht und Monitoranzeige synchron arbeiten. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur die Okularbeobachtung; zusätzliches Kamerazubehör werden für die Bildschirmausgabe benötigt.
2. Hochpräzises mechanisches Gehäuse:Starre mechanische Struktur mit stabilem Strahlengang, geeignet für Halbleiter- und Materialanalysearbeiten. Herkömmliche metallurgische Mikroskope liefern geringere mechanische Werte Präzision.
3. Direkter HDMI-Ausgang:Echtzeit-Bildausgabe an den Monitor über HDMI-Kabel. Allgemeine Metallurgie Mikroskope erfordern separate Kameras und Aufnahmekarten für die Bildausgabe.
4. Offline-Messung am Monitor:Die Dimensionsmessung kann direkt am Monitor durchgeführt werden ohne PC-Verbindung. Herkömmliche metallurgische Mikroskope basieren ausschließlich auf PC-Software-Messungen.
5. Offline-U-Disk-Speicher:Speichern Sie Fotos und Videos ohne Computer auf U-Disk. Traditionell Modelle müssen zum Speichern von Bildern eine Verbindung zum PC herstellen.
6. Spezieller metallurgischer optischer Pfad:Optimiert für Metallkorn, Beschichtung, Halbleiter und metallografische Inspektion. Gewöhnlichen Digitalmikroskopen fehlt dieser spezielle optische Pfad und sie können nicht visualisieren metallographische Strukturen.
Im Trinokulargehäuse integrierte HD-Kamera zur gleichzeitigen Betrachtung über Okular und Monitor. HDMI-Echtzeit-Mikrobild Die Ausgabe kombiniert Beobachtungs- und Aufzeichnungsworkflows.
Unterstützt DIC-, Hellfeld-, Dunkelfeld- und Polarisationslichtbeobachtung. 4-stufige Vergrößerung, optisch 50-500X, max digital Bis zu 1900-fache Vergrößerung für scharfe Details bei der Prüfung von Mikromerkmalen.
Doppelte Fokusknöpfe gepaart mit einer verstärkten Objektiv-Fass-Baugruppe ermöglichen eine gleichmäßige Fokussierung und minimieren Bildverwacklungen.
Dicker, integrierter Metallkörper und Bühnenhalterung mit niedrigem Schwerpunkt sorgen für eine stabile Leistung lange Dauer Laborbeobachtung.
Minimalistische, komplett weiße Struktur aus starrem Metall mit modularem optischen Aufbau, gut geeignet für Labore und Forschung Institute.
Ideal für Wafer-Inspektion, metallografische Analyse, Material-Mikrostruktur-Charakterisierung, akademische Forschung und Präzisions-Qualitätsbewertungsarbeit.
1080P-Foto- und Videoaufnahme, integrierte On-Monitor-Messung, U-Disk-Speicherung. Digitale Bilder vereinfachen die Archivierung von Dateien, Vergleich und Post-Experiment-Analyse.
Mechanik:Vollmetallkonstruktion für hohe Steifigkeit und Vibrationsfestigkeit. Präzision Grob-Fein-Fokussierung ohne Spiel. Hochpräziser manueller XY-Kreuztisch mit geringem Verschleiß und minimalem Verschleiß Spielraum. Der trinokulare Strahlengang sorgt dafür, dass die optische Ausrichtung beim Wechsel der Vergrößerung erhalten bleibt.
Optik:Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive mit Antibeschlag-Hartbeschichtung. Durchlicht-Auflicht-Halogenlampenbeleuchtung 12V-100W.
Bildgebung und Messung:HDMI 1080P-Kamera in Industriequalität mit hervorragender Entstörung Leistung, geeignet für den Betrieb in Industrieumgebungen. Messungen werden per Firmware auf dem Display durchgeführt.
Betriebsumgebung:Arbeitstemperatur 10–35 °C, relative Luftfeuchtigkeit 30–75 % relative Luftfeuchtigkeit. Stabile Leistung unter normaler elektromagnetischer Fabrikumgebung. Vermeiden Sie starke Vibrationen, korrosive Gase und starken Staub.
Qualität und Wartung:Vollständige Werksinspektion. Bauen Sie die optischen Module nicht auseinander. Regelmäßig Eine staubdichte Reinigung verlängert die Lebensdauer.
Halbleiter und Mikroelektronik (Kern-DIC-Anwendung):
Siliziumwafer, Lithografiescheiben, IC-Chips, Leiterplatten, flexible FPC-Schaltkreise, Lötverbindungen, Verpackungskomponenten.
Inspektionsziele: Chip-Oberflächentopographie, Wafer-Ätzmuster, Nanokratzer, Kaltlötstellen,
Oxidation und Stiftverformung. Der Differential-Interferenz-Kontrast (DIC) hebt subtile Höhenunterschiede auf der Oberfläche hervor
für die Mikroschaltungs-Scheibenbeobachtung im Vergrößerungsbereich von 190–1900fach.
Metallografische Metallproben:
Metallografische Abschnitte aus Legierung, Stahl, präzisionsgeprägte Metallteile.
Prüfziele: Metallkornstruktur, Wärmebehandlungsanalyse, Mikrooberflächenrisse, Kantenausbrüche, feine Grate,
Verschleißspuren und innere Materialverunreinigungen. Für Metall stehen die Modi Hellfeld, Dunkelfeld und polarisiertes Licht zur Verfügung
Beobachtung der Kristallstruktur.
Laborforschungsproben: Kristall, Pulver, Fasern und Dünnschicht:
Chemische Kristalle, Metallpulver, Kohlefasern, Textilfasern, optische Beschichtungsfilme.
Beobachten Sie Kristallmorphologie, Partikelumrisse, Filmdelaminierung und Mikrobeschichtungstexturen; polarisiertes Licht
identifiziert Kristallpolarisationseigenschaften.
Optoelektronische Präzisions-Kunststoffkomponenten:
LED-Chips, optische Linsen, Glassubstrate, Klebstoff für Halbleiterverpackungen.
Erkennen Sie Mikroporen, Nanokratzer, Kleberablösungen, Blasen und subtile Oberflächenunebenheiten.
Hochpräzise Miniaturbauteile:
Steckverbinder, Anschlüsse, Mikrofedern, winzige gestanzte Werkstücke.
Genaue Messung auf Pixelebene für Lücken, Lochdurchmesser, Steigungen und Oberflächenhöhenunterschiede; DIC visualisiert
subtile Crimpverformung.
Universitätslabore und Qualitätskontrolle für High-End-Halbleiter:
Materialforschungsexperimente, Wafer-Wareneingangskontrolle, metallografische Probenbeobachtung; Foto-Video
Archivierung.
Ausgestattet mit nativer 1920*1080 HD-Bildgebung. Geeignet für metallografische Beobachtungen und grundlegende Halbleiterprüfungen und einfache Laborberichterstellung; Zeigt deutlich Metallkörner und winzige Schaltkreisdefekte an.
Design mit manueller Fokussierung, geeignet für statische Laborproben und niederfrequenten Werkstückwechsel. Stabile Fokussierung Struktur mit präziser Feinabstimmung für detaillierte statische Probenbeobachtung.
Standardmäßiger manueller Bewegungstisch und vertikaler trinokularer metallurgischer Strahlengang für Metallproben, Splitterscheiben usw Leiterplatten mittlerer bis kleiner Größe, die reflektierende Blendung für grundlegende metallografische Inspektionen effektiv unterdrücken.
Doppelter Vergrößerungsbereich: 50–500-fache optische Vergrößerung, 190–1900-fache digitale Vergrößerung. Deckt beide Vollexemplare ab Übersicht und Mikrokorn-/Mikrofehlerinspektion.
Integrierte Messfunktion im Gerät, HDMI-Echtzeitausgang, U-Disk zum Speichern von Inspektionsfotos und Messungen Daten für grundlegende Laborarchivierungszwecke.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Artikel | Beschreibung |
| Produkt | GP-L600-300C Wafer-Inspektion, metallurgisches Mikroskop |
| Kategorie | Trinokulares metallurgisches Mikroskop in Laborforschungsqualität, unterstützt DIC-Differentialinterferenz, Hellfeld-/Dunkelfeld-/polarisierte Lichtbeobachtung |
| Kerntechnologien | Trinokulares synchrones optisches System, integrierte Multimode-Beleuchtung (Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisator, Differential-Interferenz-Kontrast DIC), professionelle Hochpräzision metallurgisch Objektivsatz, HD-CMOS-Bildsensor, integriertes digitales Präzisionsmessmodul, HDMI Echtzeit-Videoausgabe, U-Disk-Technologie zur lokalen Bildspeicherung |
| Wichtige Spezifikationen | Visuelle Vergrößerung: 50/100/200/500×; Elektronische Vergrößerung: 190/380/760/1900×; Ausgabeschnittstelle: HDMI nur; Aufnahmeauflösung: 1920*1080; Nur manueller Fokus; Integrierte Präzisionsmessfunktion; U-Disk Lagerung; Monitor-Terminal unterstützt HD-Bildvorschau, Fotoaufnahme und Videoaufzeichnung; Beobachtung Modi umfassen Differenzinterferenz, Hellfeld, Dunkelfeld und polarisiertes Licht. |
| Typische Anwendungen | Halbleiter-Wafer-Fehleranalyse, metallographische Prüfung von Metallmaterialien, Beschichtung von Dünnfilmen Mikrostrukturbeobachtung, Präzisions-Halbleitergehäuseinspektion, Neue-Material-Laborforschung, Beobachtung von medizinischen Biomaterialien, Mikrodefekterkennung für elektronische Komponenten |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Standort des Herstellers | Kunshan, Jiangsu, China (angrenzend an Shanghai) |
| Modell | GP-L600-300C |
| Auflösung | 1920×1080 |
| Wirklich effektive Pixel | 2 Megapixel |
| Fokussierungsmethode | Nur manueller Fokus |
| Optisches Format | 1/2" |
| Pixelgröße | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Ausgabemethode | HDMI |
| Detaillierte Einführung für Ausgabeschnittstellen | ① HDMI verbindet sich mit 4K-kompatiblen Displays. Integrierte professionelle Bildverarbeitungs-Firmware unterstützt Fotoaufnahme, Videoaufnahme, Maßvermessung, Bildwiedergabe und Bildvergleich, bedient per Maus in Echtzeit. |
| Bildrate | HDMI: 60fps bei 1920*1080 |
| Tiefenschärfesynthese | / |
| Bildzusammenfügung | / |
| Messmethode | Integriertes On-Monitor-Messsystem |
| Messgenauigkeit | 0,001 mm |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4 umschaltbare Einheiten) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Bogenmaß, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung hinzufügen, automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste und mehr |
| Speichermethode | U-Disk-Speicher |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A7 Dual-Core bei max. 1,3 GHz |
| Betriebssystem | Unabhängig entwickelte Mess-Firmware basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Bildbenennung | Automatische oder manuelle Benennung verfügbar |
| Betrachtungskopf | 30° geneigter Trinokularkopf mit Scharnier; Verstellbereich zwischen den Pupillen: 54–76 mm; zwei Strahlteilung Verhältnisse: 100:0, 0:100 |
| Beobachtungsmodi | ★ Hellfeld / Dunkelfeld / Polarisiertes Licht / DIC (DIC-Hardware ist optional) |
| Beleuchtungssystem | Durchlicht-Auflicht-Falllicht-Beleuchtungssystem, 100-240V Weitspannungseingang, einstellbar Filament mittig, stufenlos einstellbare Lichtintensität. |
| Stand | ① Durchlicht-Reflex-Rack mit doppeltem Verwendungszweck; Koaxialer Grob-Fein-Fokussiermechanismus mit niedriger Zeigerposition.
Grobverstellhub: 33 mm; Feineinstellungsgenauigkeit: 0,001 mm. Ausgestattet mit Verriegelung und Begrenzung
Geräte ② Hellfeld- und Dunkelfeldreflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Montage mit einstellbarer Mitte. ③ Interferenzfilter und Farbausgleichsplatte (Weißlicht) für Strahlengang des reflektierten Lichts. ④ Hell-Dunkelfeld-Schaltgerät; Steckplätze für Farbfilter und polarisierendes Zubehör. |
| Mechanische Bühne | 4-Zoll manueller mechanischer Tisch. Bühnenabmessung: 230 mm × 215 mm; X-Y-Verfahrweg: 105 mm × 105 mm. Glas Probenträgerplatte für Durchlicht- und Auflichtbeobachtung. |
| Lichtquelle | 12V 100W Halogenlampenkammer (Reflexlicht); 12V 100W Halogenlampe (Durchlicht). |
| Polarisationsfunktion | 30-Grad-Polarisatorfassung (reflektiertes Licht); Um 360° drehbarer Analysatorsockel für polarisiertes Licht Beobachtung. |
| Okulare | Zwei PL10X/22 mm Weitwinkel-Planfeldokulare mit einstellbarer Dioptrie (ein Okular mit Strichplatte). Skala). |
| Nasenstück | ★ Hell-Dunkelfeld-Objektivrevolver mit fünf Löchern |
| DIC-Funktion | Differential-Interferenz-Kontrast-Funktion; DIC-Einschubplatinenzubehör ist optional und nicht im Lieferumfang enthalten in Standardkonfiguration. |
| Elektronische Schnittstelle | 0,5-fache C-Mount-Kameraschnittstelle, einstellbarer Fokus; CTV 1X ist optional mit Preisdifferenzausgleich erhältlich. |
| Metallurgische Ziele | ★ Halbzerstörende metallurgische Hell-Dunkelfeld-Ziele ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, funktionsfähig Abstand: 9,00 mm ×1Stk ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, Arbeitsabstand: 9,00 mm ×1 Stk ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Arbeitsabstand: 3,40 mm ×1 Stk ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, Arbeitsabstand: 7,50 mm ×1 Stk ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Arbeitsabstand: 2,10 mm (optional, nicht im Standardpaket enthalten) |
| Optische Vergrößerung | 50X, 100X, 200X, 500X (vierstufig umschaltbar) |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 190X, 380X, 760X, 1900X (vierstufig umschaltbar); optionaler Vergrößerungsbereich: 380-3800X. |
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GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Präzisions-Steckverbinder- und Komponentenprüfung
NIO Shanghai – Präzisionsinspektion für New-Energy-Autoteile und Kabelbäume
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalyse anorganischer Keramik und neuer Energiematerialien
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Aussehen und Mikroqualitätsprüfung für Industrie-Standardteile
Beijing Institute of Technology – Wissenschaftliche Forschungsanalyse für militärische Materialien und optoelektronische Geräte
GREE Electric Appliances (Hefei) – Präzise Dimensionsmessung und Fehlerprüfung für Haushaltsgeräteteile
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde 2011 offiziell gegründet. Unser Gründer begann mit der Forschung und Bereits im Jahr 2005 begann ich mit der Herstellung von optischen Inspektionsgeräten und sammelte umfangreiche Branchenerfahrung. Wir liefern Full-Cycle-Services, die Produktdesign, technische Forschung und Entwicklung, globalen Vertrieb und vieles mehr umfassen umfassende After-Sales-Wartung. Unser hauseigenes Ingenieursteam verfügt über mehr als zehn Jahre Erfahrung in der Entwicklung optischer Systeme, um Stabilität zu gewährleisten technische Leistung und zuverlässige Produktqualität.
GAOPIN bietet mehr als einhundert Kategorien optischer Inspektionsinstrumente für Industrie- und Laboranwendungen. Kunden weltweit. Wir bieten flexible, kostengünstige, maßgeschneiderte Mikroskopielösungen für verschiedenste Industriebereiche Qualitätskontroll- und Laboranalyseprojekte.
Für Käufer im Ausland bieten wir zeitnahen globalen technischen Support, einschließlich Online-Video-Beratungen, Einsatzvideo- Tutorials und Remote-Skill-Training. Unsere Produktionsstätte befindet sich in Kunshan, Provinz Jiangsu (in der Nähe von Shanghai). Werksbesichtigungen vor Ort und virtuelle Online-Touren sind willkommen. Bitte wenden Sie sich für authentische Informationen an unser Vertriebsteam Probentestbilder, die mit diesem metallurgischen Wafer-Inspektionsmikroskop aufgenommen wurden, zur Auswertung Echte Abbildungsleistung.
A1: Es ist nur ein HDMI-High-Definition-Ausgang vorhanden. Es gibt keinen USB-, WLAN- oder LAN-Anschluss. Computerverbindung ist nicht unterstützt; Es arbeitet unabhängig mit einem Monitor für einfach zu bedienende Arbeitsabläufe.
A2: Netzteil und passenden Adapter prüfen; HDMI-Kabel fest befestigen; Monitor auf korrekte HDMI-Signalquelle umschalten; Starten Sie das Gerät neu, um Probleme mit schwarzem Bildschirm und fehlendem Bild zu beheben.
A3: Dies ist ein Modell mit manuellem Fokus. Stellen Sie das Fokus-Handrad langsam ein, um eine scharfe Abbildung zu erhalten. Objektiv fest verriegeln, auflegen Legen Sie die Probe flach ab und reinigen Sie die Linse regelmäßig von Staub und Flecken, um eine klare Sicht zu gewährleisten.
A4: Es werden nur FAT32-formatierte U-Disks ≤32 GB unterstützt. NTFS- und exFAT-Formate sind nicht kompatibel. Neu einfügen, neu formatieren oder Ersetzen Sie es durch eine kompatible U-Disk für die normale Foto- und Videospeicherung.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
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