GP-L700-462H ist ein metallurgisches Mikroskop mit Autofokus und großem Arbeitsabstand. Es ist ausgestattet mit großer Arbeitsabstand Objektive und Hellfeld-Beobachtungsmodus. Der zusätzliche interne Arbeitsabstand gleicht Höhenunterschiede aus Proben. Die hochauflösende 4K-Bildgebung liefert scharfe Mikrostruktur- und Oberflächendefektdetails. Der trinokulare Port Unterstützt die Aktualisierung von Kameramodulen und Bildanalysesoftware. Weit verbreitet in universitären Forschungsinstituten und Industrielle QC-Labore zur Mikrobeobachtung und Qualitätsbewertung metallischer und nichtmetallischer Proben.

Dieses metallurgische Mikroskop mit Autofokus und großem Arbeitsabstand eignet sich für die Inspektion von Präzisionskomponenten, integrierten Schaltkreisen und Verpackungsmaterial Produkte.
1. Vergrößerung:380–3800-fache Viergang-Hochvergrößerung für Korn- und Span-Mikrostruktur Beobachtung. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope liefern eine geringere Maximalvergrößerung und unscharfe Hochleistungsbilder. und kann keine ultrafeinen Metallkörner beobachten.
2. Bildgebungssystem:Native 4K-Ultra-HD-Kamera, synchronisierte Okular- und Monitoranzeige. Gewöhnlich Metallurgische Mikroskope verwenden eine 2K-Kamera mit niedriger Auflösung und nur die Okularansicht.
3. Messung und Lagerung:Integrierte Präzisionsmessung auf dem Monitor mit Foto- und Videoaufnahme für Testnachweise-Archivierung. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope verfügen über keine integrierte Messung und benötigen dafür eine PC-Software sämtliche Mess- und Archivierungsarbeiten.
4. Anwendungsbereich:Optimiert für die präzise Inspektion von Wafern, Halbleiterchips und Metall Körner. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope sind auf die einfache Beobachtung von Metallscheiben beschränkt und weisen eine schlechte Leistung auf feine Exemplare in Splitterqualität.
4K-Kamera mit integriertem Trinokularkopf für gleichzeitige Betrachtung über Okulare und Monitor. Multi-Port-Ausgabe über HDMI, USB3.0 und WLAN übertragen Ultra-HD-Mikrobilder in Echtzeit.
Präzisions-Mehrschichtlinsen-Strahlengang mit vierstufiger Vergrößerung; maximale digitale Vergrößerung bis zu 3800X, erfassen Scharfe Mikrostrukturen von Wafern, Chips und Kristallkörnern im Mikrometerbereich.
Integriertes Hardware-Autofokusmodul; Der manuelle Fokusmodus ist ebenfalls verfügbar. Bietet eine stabile, vibrationsfreie Fokussierung und verbessert die Inspektionseffizienz bei Massenprobenprüfungen.
Die verdickte, quadratische Metallbasis mit stabilem Stützarm senkt den Schwerpunkt und verhindert so ein Verschieben/Schütteln während lange Stunde Kontinuierliche Hochleistungsbeobachtung.
Stabiles schwarz-weißes Metallgehäuse mit abnehmbarem, geteiltem Lichtquellenmodul, minimalistisches, professionelles Design für Labore und Halbleiterwerkstätten.
Optimiert für die Wafer- und Chip-Inspektion; wird auch häufig für Halbleitertests, metallografische Analysen usw. eingesetzt. Materialforschung und industrielle Qualitätskontrollarbeiten.
4K-Foto- und Videoaufnahme, zwei Messmodi (im Bildschirm integriert + PC-Software). Dual-Speicherung über U-Disk & Computer. Die Tiefenschärfesynthese läuft sowohl auf dem Monitor als auch in der PC-Software. Bild-Stitching nur verfügbar in PC-Software. Unterstützte Sekundärentwicklung für Bildarchivierung, Vergleich und erweiterte Analyse.
Mechanik:Vollmetallkonstruktion für hohe Steifigkeit und Vibrationsfestigkeit. Extra lang Arbeitsabstand für die Beobachtung großer Probenhöhen. Ausgestattet mit Hardware-Autofokusmodul, auch manueller Fokusmodus verfügbar. Präzise Grob-Fein-Fokussierung ohne Spiel. Verschleißfester manueller XY-Kreuztisch. Trinokular Der optische Pfad behält die optische Ausrichtung beim Objektivwechsel bei.
Optik:Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive mit Antibeschlag-Hartbeschichtung. Auflichtbeleuchtung mit 6V-30W-Halogenlampen.
Bildgebung und Messung:8,3-Megapixel-4K-Industrie-CMOS-Kamera. Multi-Ausgang: HDMI + USB3.0 + WIFI, Gute Entstörungsleistung für den Einsatz in industriellen Umgebungen. Unterstützt eingebettete On-Monitor-Messungen und PC-Software-Messung. Dual-Path-Speicherung über U-Disk und PC-Software. Die Tiefenschärfesynthese läuft beides auf dem Monitor und PC-Software; Bildzusammenfügung wird ausschließlich durch PC-Software unterstützt. Sekundäre Entwicklungsschnittstelle verfügbar über USB3.0 / WLAN.
Betriebsumgebung:Arbeitstemperatur 10–35 °C, relative Luftfeuchtigkeit 30–75 % relative Luftfeuchtigkeit. Stabil unter Normalbedingungen Elektromagnetische Umgebung der Fabrik. Vermeiden Sie starke Vibrationen, korrosive Gase und starken Staub. Halten Sie das WLAN-Modul fern starke Signalstörquellen.
Qualität und Wartung:Vollständige Werksinspektion. Demontieren Sie keine optischen Module oder Autofokus-Modul. Regelmäßige staubdichte Reinigung verlängert die Lebensdauer.
Halbleiter und Mikroelektronik (Kernanwendung):
Siliziumwafer, Lithografiescheiben, IC-Chips, MOS-Röhren, Leiterplatten, flexible FPC-Schaltkreise, verpackte Lötverbindungen.
Inspektionsziele: Chip-Oberflächen-Mikroschaltkreismuster, Wafer-Ätzfehler, Beschichtungskratzer,
Verpackungsblasen, Kaltlötstellen, Oxidation und Pinverformung. Ultrahohe Vergrößerung bis zu 3800X für
Chip-Slice-Beobachtung im Mikrometerbereich.
Metallografische Metallproben und Metallschneidewerkzeuge:
Metallografische Abschnitte aus Legierung, Stahlscheiben, präzisionsgeprägte Metallteile.
Prüfziele: Metallkornstruktur, Wärmebehandlung-metallografische Analyse, Mikrooberflächenrisse,
Schneidenausbrüche, Grate, Verschleißspuren und innere Materialverunreinigungen.
Laborforschungsproben: Kristall, Pulver und Dünnschicht:
Ein-/Polykristalle, Metallpulver, chemische Pulver, optische Beschichtungsfilme, ultradünne Filmmaterialien.
Beobachten Sie Mikrokristallgitter, ultrafeine Partikelmorphologie, Filmdelaminierung und Mikrobeschichtungstexturen.
Optoelektronische Präzisions-Kunststoffkomponenten:
LED-Chips, optische Glaslinsen, Halbleiter-Verpackungskleber.
Erkennen Sie Mikroporen, Nanokratzer, Kleberablösungen, Blasen und subtile Oberflächenunebenheiten.
Miniatur-Präzisionskomponenten:
Steckverbinder, Klemmen, Mikrofedern, kleine präzisionsgeprägte Werkstücke.
4K-Pixel-genaue Messung von Lücken, Lochdurchmessern, Steigungen und Oberflächenhöhenunterschieden; DIC visualisiert
subtile Crimpverformung.
Universitätslabore und Qualitätskontrolle für High-End-Halbleiter:
Materialforschungsexperimente, Metallurgie-Lehranalyse, Wareneingangs- und Fertigwaren-Wafer-Probenahmekontrolle;
Foto-Video-Archivierung, Export präziser QC-Berichte über den PC.
Ausgestattet mit nativer 3840*2160 4K Ultra-HD-Bildgebung. Geeignet für die Wafer-Metallographie-Inspektion und Metall-Material-Analyse; Zeigt deutlich Maserungen, Mikrokratzer und winzige Mikrodefekte.
Hardware-Autofokus, ausgestattet für die Massenproduktionsprüfung und den häufigen Probenaustausch. Schnelles Fokussieren danach bewegen Werkstücke ohne wiederholte manuelle Anpassung zur Steigerung der Effizienz. Der manuelle Fokusmodus ist ebenfalls verfügbar für statische Probenbeobachtung.
Unabhängige geteilte koaxiale Lichtquelle für Metallproben, Wafer und reflektierende Leiterplatten. Vertikale koaxiale Beleuchtung Unterdrückt reflektierende Metallreflexionen und stellt echte metallografische Texturen wieder her. Motorbetriebener XY-Tisch wählbar als optionales Upgrade.
Doppelter Vergrößerungsbereich: 50–500-fache optische Vergrößerung, 380–3800-fache digitale Vergrößerung. Deckt beide Vollexemplare ab Übersicht und Mikrokorn-/Mikrofehlerinspektion.
Unterstützt integrierte On-Device-Messungen und PC-Software-Messungen. Ausgestattet mit HDMI-, USB3.0- und WIFI-Ausgang Häfen. Fotos, Videos und Messdaten können über eine kompatible U-Disk oder einen Computer gespeichert werden. Sekundäre Entwicklung unterstützt für Integration in die Produktionslinie und Rückverfolgbarkeit von Labordaten.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Artikel | Beschreibung |
| Produktmodell | GP-L700-462H Metallurgisches Autofokus-Mikroskop mit großem Arbeitsabstand |
| Produktkategorie | Vertikales metallurgisches Mikroskop in Forschungsqualität mit hoher Vergrößerung |
| Kerntechnologien | Trinokulares optisches System mit synchroner Betrachtung, geteiltes koaxiales vertikales Lichtquellenmodul, hochauflösend metallurgisches Objektiv-Set, 4K-Ultra-HD-CMOS-Bildsensor, Hardware-Autofokussystem, Dreikanalig Übertragung (HDMI+USB3.0+WIFI), Dual-Messsystem, Tiefenschärfesynthese und Bildzusammenfügung Algorithmus, offene Architektur, die die Integration der Sekundärentwicklung unterstützt |
| Wichtige Spezifikationen | Optische Vergrößerung: 50/100/200/500×; Elektronische Vergrößerung: 380/760/1520/3800×; Dreifache Leistung Häfen: HDMI + USB3.0 + WLAN; 4K-Aufnahmeauflösung: 3840×2160; Ausgestattet mit Hardware-Autofokus (auch manueller Fokus). verfügbar); Duale Messmodi: integrierte präzise Messung + abgestimmte PC-Software-Messung; Dual-Speichermodi: U-Disk-Speicher + Computer-Software-Speicher; Monitor-Terminal unterstützt dimensional Messung, HD-Bildvorschau, Foto-Videoaufzeichnung, Tiefenschärfesynthese; PC-Terminal unterstützt Dimensionsmessung, Dateispeicherung, Tiefenschärfesynthese und Bildzusammenfügung; Stützen für die gesamte Einheit Sekundärentwicklungsintegration. |
| Typische Anwendungsszenarien | Beobachtung von Wafer-Chip-Körnern, Mikrodefektinspektion von Halbleiterverpackungen, Metallmaterial metallographische Analyse, Präzisionsschaltungs-Mikrodefekterkennung, Fehleranalyse elektronischer Komponenten, Fortgeschrittene-Material-Laborforschung |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Fabrikstandort | Stadt Kunshan, Provinz Jiangsu, China (angrenzend an Shanghai) |
| Modell | GP-L700-462H |
| Auflösung | 3840×2160 |
| Wirklich effektive Pixel | 8.300.000 Pixel |
| Fokussierungsmethode | Autofokus |
| Optisches Format | 1/1,8" |
| Pixelgröße | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Ausgabemethode | HDMI + USB3.0 + WLAN |
| Detaillierte Funktionseinführungen für jede Ausgabeschnittstelle | ① HDMI verbindet sich mit 4K-kompatiblen Displays. Integrierte professionelle Bildverarbeitungs-Firmware unterstützt
Hardwaregesteuerter Autofokus, Fotoaufnahme, Videoaufnahme, Dimensionsmessung, Bildwiedergabe
und
Bildvergleich, bedienbar per Maus in Echtzeit. ② USB 3.0 wird mit dem Computer verbunden, im Lieferumfang enthalten hochwertige professionelle Bildverarbeitungssoftware für Fotoaufnahme, Dimensionsmessung, Tiefenschärfefusion und Bildzusammenfügung. ③ WIFI-Modul verbindet sich mit Laptops oder Mobilgeräten; Bildübertragung, Fotografie und Speicherung in Echtzeit über passende Software. |
| Bildrate | HDMI: 60fps bei 3840×2160 USB3.0: 30fps bei 3840×2160; 60fps bei 1920×1080 WLAN: 30fps bei 3840×2160; 60fps @1920×1080 |
| Tiefenschärfesynthese | Unterstützt sowohl von HDMI-On-Monitor-Firmware als auch von PC-Software |
| Bildzusammenfügung | Wird nur auf der PC-Softwareseite unterstützt |
| Messmethode | Integriertes On-Monitor-Messsystem + PC-Software-Messung |
| Messgenauigkeit | 0,002–0,005 mm |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4 umschaltbare Einheiten) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Bogenmaß, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung hinzufügen, automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste und mehr |
| Speichermethode | U-Disk-Speicher + PC-Software-Speicher |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max. 1,4-GHz-Hauptsteuerungsprozessor |
| Betriebssystem | Unabhängig entwickelte Mess-Firmware basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Bildbenennung | Automatische oder manuelle Benennung verfügbar |
| Betrachtungskopf | 30° geneigter Trinokularkopf mit Scharnier; Verstellbereich zwischen den Pupillen: 53–75 mm |
| Beobachtungsmodi | Hellfeld / Schrägbeleuchtung / einfache Polarisation |
| Beleuchtungssystem | Falllicht-Beleuchtungssystem, 100–240 V Weitspannungseingang, verstellbare Glühfadenmitte, stufenlos einstellbare Lichtintensität. |
| Stand | ① Aufnahmegestell, koaxialer Grob-Fein-Fokussiermechanismus mit Verriegelungs- und Begrenzungsvorrichtungen;
Feinstteilungswert: 2 μm. Auflichtbeleuchtung mit Halogenlampen. ② Hellfeld Reflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Farbfilter-Umschalteinheit. ③ Gelb, Blau, Grünfilter und Milchglasscheibe für den optischen Strahlengang des reflektierten Lichts im Lieferumfang enthalten. |
| Mechanische Bühne | Grundmaß: 300 mm × 240 mm; Bühnenabmessung: 185 mm × 140 mm; X-Y-Verfahrweg: 35 mm × 30 mm. Geeignet für relativ große Werkstücke. |
| Lichtquelle | 6V 30W Halogenlampenkammer (nur Auflicht). |
| Einfache Polarisationsfunktion | Push-Pull-Polarisator und Analysator installiert |
| Elektronische Schnittstelle | 1X C-Mount-Kameraschnittstelle, nicht einstellbarer Fokus; CTV 0,5X ist optional mit Preisunterschied Entschädigung. |
| Okulare | Zwei WF10X/22 mm Weitwinkel-Planfeldokulare mit individueller Dioptrieneinstellung |
| Nasenstück | ★Mingchang Fünf-Loch-Objektivrevolver |
| Metallurgische Ziele | ★Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive ① PL L5X/0,12, Arbeitsabstand: 26,1 mm ×1Stk ② PL L10X/0,25, Arbeitsabstand: 20,2 mm ×1 Stk ③ PL L20X/0,40, Arbeitsabstand: 8,80 mm ×1Stk ④ PL L50X/0,70, Arbeitsabstand: 3,68 mm ×1 Stk ⑤ PL L100X/0,85, Arbeitsabstand: 0,40 mm (optional, nicht im Standardpaket enthalten) |
| Optische Vergrößerung | 50X, 100X, 200X, 500X (vierstufig umschaltbar) |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X (vierstufig umschaltbar); optionaler Vergrößerungsbereich: 190-1900X. |
GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. – Mikroskopische Maßprüfung für automatisierte Präzisionsgefertigte Teile
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Maß- und Mikrofehlererkennung für Präzisionsbearbeitung Teile
Tianjin University of Commerce – Material-Labor-Lehre, Mikrobildgebung und experimentelle Datenarchivierung
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Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde offiziell im Jahr 2011 gegründet. Unser Gründerteam ist reich geworden Erfahrung in der Branche der optischen Inspektionsinstrumente seit 2005. Wir bieten Dienstleistungen rund um den gesamten Zyklus an optisches Design, unabhängige Forschung und Entwicklung, weltweiter Vertrieb und umfassende After-Sales-Wartungsdienste. Unser Die hochqualifizierte Ingenieursgruppe verfügt über mehr als zehn Jahre praktische Erfahrung in der Entwicklung optischer Instrumente liefern bewährte, stabile Technologie und zuverlässige Produktqualität.
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A3: Netzteil und passenden Adapter prüfen; Befestigen Sie das HDMI-Kabel fest und schalten Sie den Monitor auf die richtige Signalquelle um. neu starten Gerät zur Behebung von Problemen mit schwarzem Bildschirm, fehlendem Bild und Bildschirmflackern.
A4: Dieses Modell unterstützt Hardware-Autofokus und manuelle Fokus-Dual-Modi. Aktivieren Sie den Autofokus für eine schnelle Bildaufnahme oder Feinabstimmung manuell. Befestigen Sie die Objektivlinse fest, legen Sie die Probe flach hin und reinigen Sie die Linse regelmäßig von Staub und Fingerabdrücken, um eine scharfe Darstellung zu gewährleisten Bildgebung.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
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