Das metallurgische 4K-Ultra-HD-Mikroskop GP-L600-324K für die Wafer-Inspektion ist ein forschungstaugliches metallurgisches Wafer-Inspektionsmikroskop mit 4K Ultra HD. Es übernimmt eine Unendlich korrigiertes optisches System mit einem optionalen Nomarski DIC-Modul zur Erfassung nanoskaliger Oberflächenhöhen Variationen. Das Instrument unterstützt Hellfeld- und Polarisationslichtbeobachtungen. Der trinokulare Port erleichtert Kamerainstallation und Verbindung mit metallurgischer Analysesoftware. Es eignet sich für Workflows einschließlich metallografische Forschung, Halbleiterinspektion und Materialfehleranalyse.
Dieses metallurgische 4K-Ultra-HD-Mikroskop zur Waferinspektion eignet sich für die mikroskopische Beobachtung metallografischer Mikrostrukturen und Oberflächenmorphologie. Es dient als ideales Forschungsinstrument für die Disziplinen Metallurgie, Mineralogie und Feinmechanik.
| Artikel | Beschreibung |
| Produkt | GP-L600-324K Wafer-Inspektion, metallurgisches Mikroskop mit 4K Ultra HD |
| Kategorie | Trinokulares metallurgisches Mikroskop in Laborforschungsqualität, kompatibel mit DIC-Differentialinterferenz, Hellfeld-/Dunkelfeld-/polarisierte Lichtbeobachtung |
| Kerntechnologien | Trinokulares synchrones optisches System, integrierte Multimode-Beleuchtung (Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisator, Differential-Interferenz-Kontrast DIC), hochpräziser Profi metallurgisch Objektivsatz, 4K-Ultra-HD-CMOS-Bildsensor, Dual-Messsystem (im Monitor integriert). Messung + PC-Software-Messung), HDMI+Gigabit-LAN Zweikanal-Signalübertragung, Dual-Speicherung Technologie, offene Architektur, die den sekundären Entwicklungszugang unterstützt |
| Wichtige Spezifikationen | Visuelle Vergrößerung: 50/100/200/500×; Elektronische Vergrößerung: 190/380/760/1900×; Dual-Ausgang Schnittstellen: HDMI + Gigabit-LAN-Port; 4K-Aufnahmeauflösung: 3840×2160; Nur manueller Fokus; Doppelmessung Modi: integrierte präzise Messung + abgestimmte PC-Software-Messung; Dual-Speichermodi: U-Disk Lagerung + Speicherung von Computersoftware; Monitorterminal: Dimensionsmessung, HD-Bildvorschau, Fotoarchivierung; PC-Terminal: Dimensionsmessung, Fotospeicherung; Die gesamte Einheit unterstützt das Andocken der Sekundärentwicklung. |
| Typische Anwendungen | Halbleiter-Wafer-Fehleranalyse, metallografische Inspektion von Metallmaterialien, Beschichtung von Dünnfilmen Mikrostruktur-Beobachtung, Präzisions-Halbleiter-Gehäuseprüfung, fortgeschrittenes Materiallabor- Forschung, medizinische Biomaterialbeobachtung, Mikrodefekterkennung für elektronische Komponenten |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Standort des Herstellers | Kunshan, Jiangsu, China (angrenzend an Shanghai) |
Im Trinokulargehäuse integrierte 4K-Kamera zur gleichzeitigen Betrachtung über Okular und Monitor. Dual-Port-Ausgabe über HDMI und Gigabit-LAN überträgt Ultra-HD-Mikrobilder in Echtzeit.
Unterstützt DIC-, Hellfeld-, Dunkelfeld- und Polarisationslichtbeobachtung. 4-stufige Vergrößerung, optisch 50-500X, max digital Bis zu 1900-fache Vergrößerung für scharfe Details bei der Prüfung von Mikromerkmalen.
Zwei koaxiale Fokusknöpfe gepaart mit einer verstärkten Objektiv-Fass-Baugruppe ermöglichen eine gleichmäßige Fokussierung und minimieren das Bild zittern.
Der dicke integrierte Metallständer und die Tischhalterung senken den Schwerpunkt und sorgen dafür, dass das Mikroskop stabil bleibt stundenlange Inspektion auf Forschungsniveau.
Modularer optischer Aufbau mit starrem Metallgehäuse, gut geeignet für Labore, Forschungsinstitute und Halbleiter Produktionsanlagen.
Optimiert für die Wafer- und Chip-Inspektion; Wird auch häufig für Halbleitertests, metallografische Analysen usw. eingesetzt. Materialforschung und Präzisions-Qualitätsbewertungsarbeiten.
4K-Foto- und Videoaufnahme, zwei Messmodi (im Bildschirm integriert + PC-Software). Dual-Speicherung über U-Disk & Computer. Die Funktionen zur Tiefenschärfesynthese und zum Zusammenfügen von Bildern laufen ausschließlich auf unterstützender PC-Software. Sekundärentwicklung ist Unterstützt über LAN-Port für Bildarchivierung, Vergleich und erweiterte Analyse.
1. Optische Beobachtungsmodi:Unterstützt Multimode-Optik einschließlich DIC, Hellfeld, Dunkelfeld und polarisiertes Licht zur Beobachtung der Kristall- und Beschichtungstextur. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope liefern nur verfügt über ein einfaches Hellfeld und kann keine ultradünnen Schichten und Kristallmikrostrukturen sichtbar machen.
2. Bildgebungssystem:Native 4K-Ultra-HD-Kamera, synchronisierte Okular- und Monitoranzeige. Gewöhnlich Metallurgische Mikroskope verwenden eine 2K-Kamera mit niedriger Auflösung und nur eine Okularansicht mit verzerrter hoher Vergrößerung Ausgabe.
3. Vergrößerungseinstellung:Der Vergrößerungsbereich mit vier Gängen reicht von 190-1900X und deckt den Makroüberblick ab und Mikrodetailinspektion. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope haben weniger Vergrößerungsgeräte und unscharfe Bilder hohe Leistung.
4. Messung und Aufzeichnung:Integrierte präzise Messung auf dem Monitor mit Foto-Video-Aufzeichnung Fähigkeit. Herkömmliche metallurgische Mikroskope verfügen über keine integrierte Messung und erfordern für alle Analysen eine PC-Software und Archivierung.
Halbleiter und Mikroelektronik (Kern-DIC-Anwendung):
Siliziumwafer, Lithografiescheiben, IC-Chips, Leiterplatten, flexible FPC-Schaltkreise, Lötverbindungen, Verpackungskomponenten.
Inspektionsziele: Chip-Oberflächentopographie, Wafer-Ätzmuster, Nanokratzer, Kaltlötstellen,
Oxidation und Stiftverformung. Differential-Interferenz-Kontrast (DIC) hebt subtile Oberflächen-Höhenunterschiede hervor
für die Mikroschaltungs-Scheibenbeobachtung im Vergrößerungsbereich von 190–1900fach.
Metallografische Metallproben:
Metallografische Abschnitte aus Legierung, Stahl, präzisionsgeprägte Metallteile.
Prüfziele: Metallkornstruktur, Wärmebehandlungsanalyse, Mikrooberflächenrisse, Kantenausbrüche, feine Grate,
Verschleißspuren und innere Materialverunreinigungen. Hellfeld-/Dunkelfeld-/polarisiertes Lichtmodi für Metallkristalle
Strukturbeobachtung.
Laborproben: Kristall, Pulver, Fasern und Dünnschicht:
Chemische Kristalle, Metallpulver, Kohlefasern, optische Beschichtungsfilme.
Beobachten Sie Kristallmorphologie, Partikelumrisse, Filmdelaminierung und Mikrobeschichtungstexturen; polarisiertes Licht
identifiziert Kristallpolarisationseigenschaften.
Optoelektronische & Präzisions-Kunststoffkomponenten:
LED-Chips, optische Linsen, Glassubstrate, Klebstoff für Halbleiterverpackungen.
Erkennen Sie Mikroporen, Nanokratzer, Kleberablösungen, Blasen, Flecken und subtile Oberflächenunebenheiten.
Hochpräzise Miniaturbauteile:
Steckverbinder, Anschlüsse, Mikrofedern, winzige gestanzte Werkstücke.
4K-Pixel-genaue Messung von Lücken, Lochdurchmessern, Steigungen und Oberflächenhöhenunterschieden; DIC visualisiert
subtile Crimpverformung.
Universitätslabore und Qualitätskontrolle für High-End-Halbleiter:
Materialforschungsexperimente, Wafer-Wareneingangskontrolle, metallografische Probenbeobachtung; Foto-Video
Archivierung, Export präziser QC-Berichte über angeschlossenen PC.
Mechanik:Vollmetallkonstruktion für hohe Steifigkeit und Vibrationsfestigkeit. Präzision Grob-Fein-Fokussierung ohne Spiel. Hochpräziser manueller XY-Kreuztisch mit geringem Verschleiß und minimalem Verschleiß Spielraum. Der trinokulare Strahlengang behält die optische Ausrichtung beim Objektivwechsel bei.
Optik:Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive mit Antibeschlag-Hartbeschichtung. Durchlicht-Auflicht-Halogenlampenbeleuchtung 12V-100W.
Bildgebung und Messung:8,3-Megapixel-4K-Industrie-CMOS-Kamera. Dual-Ausgang: HDMI + Gigabit-LAN Port, gute Entstörungsleistung für den Einsatz in Industrieumgebungen. Unterstützt eingebettete On-Monitor-Messungen und PC-Software-Messung. Dual-Path-Speicherung über U-Disk und PC-Software. Tiefenschärfesynthese und Bildzusammenfügung nur mit PC-Software möglich. Sekundäre Entwicklungsschnittstelle über Gigabit-LAN verfügbar.
Ausgestattet mit nativer 3840*2160 4K-Bildgebung. Geeignet für metallografische Analysen, Chip-Schaltkreis-Inspektion und Professionelle Testberichterstellung, die Metallkörner, Mikrokratzer und winzige Mikrodefekte deutlich sichtbar macht.
Design mit manuellem Fokus, geeignet für statische Laborproben und niederfrequenten Werkstückwechsel. Stabil Feinabstimmung Drehknöpfe für eine langfristige, präzise statische Probenbeobachtung.
Standardmäßiger manueller beweglicher Tisch und vertikaler trinokularer metallurgischer Strahlengang für kleine bis mittelgroße Spanscheiben Leiterplatten und Metallproben, wodurch reflektierende Blendung bei der metallografischen Inspektion wirksam unterdrückt wird.
Doppelter Vergrößerungsbereich: 50–500-fache optische Vergrößerung, 190–1900-fache digitale Vergrößerung. Deckt beide Vollexemplare ab Übersicht und Mikrokorn-/Mikrofehlerinspektion.
Unterstützt integrierte On-Device-Messungen und PC-Software-Messungen. Ausgestattet mit HDMI + Gigabit-LAN-Anschluss. Fotos, Videos und Messdaten können über eine kompatible U-Disk oder einen Computer gespeichert werden. Sekundärentwicklung unterstützt für Integration in die Produktionslinie und Rückverfolgbarkeit von Labordaten.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Modell | GP-L600-324K |
| Auflösung | 3840×2160 |
| Wirklich effektive Pixel | 8.300.000 Pixel |
| Fokussierungsmethode | Manueller Fokus |
| Optisches Format | 1/1,7" |
| Pixelgröße | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Ausgabemethode | HDMI + Gigabit-Ethernet-LAN-Anschluss |
| Detaillierte Funktionseinführungen für jede Ausgabeschnittstelle | ① HDMI verbindet sich mit 4K-kompatiblen Displays. Integrierte professionelle Bildverarbeitungs-Firmware unterstützt
Fotoaufnahme, Videoaufnahme, Maßvermessung, Bildwiedergabe und Bildvergleich, bedient
per Maus in Echtzeit. ② Der Gigabit-LAN-Port verbindet sich mit Routern, Switches oder Computern für das Netzwerk Bild Übertragung. Computer innerhalb desselben Netzwerksegments können Echtzeitvideos empfangen und die Aufnahme auslösen über passende Software. |
| Bildrate | HDMI: 60fps bei 3840×2160 Gigabit-LAN: 20 fps bei 1920 x 1080 |
| Tiefenschärfesynthese | / |
| Bildzusammenfügung | / |
| Messmethode | Integriertes On-Monitor-Messsystem + PC-Software-Messung |
| Messgenauigkeit | 0,001 mm |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4 umschaltbare Einheiten) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Bogenmaß, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung hinzufügen, automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste und mehr |
| Speichermethode | U-Disk-Speicher + PC-Software-Speicher |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz Hauptsteuerungsprozessor |
| Betriebssystem | Unabhängig entwickelte Mess-Firmware basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Bildbenennung | Automatische oder manuelle Benennung verfügbar |
| Betrachtungskopf | 30° geneigter Trinokularkopf mit Scharnier; Verstellbereich zwischen den Pupillen: 54–76 mm; zwei Strahlteilung Verhältnisse: 100:0, 0:100 |
| Beobachtungsmodi | ★ Hellfeld / Dunkelfeld / Polarisiertes Licht / DIC (DIC-Hardware ist optional) |
| Beleuchtungssystem | Durchlicht-Auflicht-Falllicht-Beleuchtungssystem, 100-240V Weitspannungseingang, einstellbar Filament mittig, stufenlos einstellbare Lichtintensität. |
| Stand | ① Durchlicht-Reflex-Rack mit doppeltem Verwendungszweck; Koaxialer Grob-Fein-Fokussiermechanismus mit niedriger Zeigerposition.
Grobverstellhub: 33 mm; Feineinstellungsgenauigkeit: 0,001 mm. Ausgestattet mit Verriegelung und Begrenzung
Geräte. ② Hellfeld- und Dunkelfeldreflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Montage mit einstellbarer Mitte. ③ Interferenzfilter und Farbausgleichsplatte (Weißlicht) für Strahlengang des reflektierten Lichts. ④ Hell-Dunkelfeld-Schaltgerät; Steckplätze für Farbfilter und polarisierendes Zubehör. |
| Mechanische Bühne | 4-Zoll manueller mechanischer Tisch. Bühnenabmessung: 230 mm × 215 mm; X-Y-Verfahrweg: 105 mm × 105 mm. Glas Probenträgerplatte für Durchlicht- und Auflichtbeobachtung. |
| Lichtquelle | 12V 100W Halogenlampenkammer (Reflexlicht); 12V 100W Halogenlampe (Durchlicht). |
| Polarisationsfunktion | 30-Grad-Polarisatorfassung (reflektiertes Licht); Um 360° drehbarer Analysatorsockel für polarisiertes Licht Beobachtung. |
| Okulare | Zwei PL10X/22 mm Weitwinkel-Planfeldokulare mit einstellbarer Dioptrie (ein Okular mit Strichplatte). Skala). |
| Nasenstück | ★ Hell-Dunkelfeld-Objektivrevolver mit fünf Löchern |
| DIC-Funktion | Differential-Interferenz-Kontrast-Funktion; DIC-Einschubplatinenzubehör ist optional und nicht im Lieferumfang enthalten in Standardkonfiguration. |
| Elektronische Schnittstelle | 0,5-fache C-Mount-Kameraschnittstelle, einstellbarer Fokus; CTV 1X ist optional mit Preisdifferenzausgleich erhältlich. |
| Metallurgische Ziele | ★ Halbzerstörende metallurgische Hell-Dunkelfeld-Ziele ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, funktionsfähig Abstand: 9,00 mm ×1Stk ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, Arbeitsabstand: 9,00 mm ×1 Stk ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Arbeitsabstand: 3,40 mm ×1 Stk ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, Arbeitsabstand: 7,50 mm ×1 Stk ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Arbeitsabstand: 2,10 mm (optional, nicht im Standardpaket enthalten) |
| Optische Vergrößerung | 50X, 100X, 200X, 500X (vierstufig umschaltbar) |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 190X, 380X, 760X, 1900X (vierstufig umschaltbar); optionaler Vergrößerungsbereich: 380-3800X. |
GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
Tianjin University of Commerce – Material-Labor-Lehre, Mikrobildgebung und experimentelle Datenarchivierung
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Maß- und Mikrofehlererkennung für Präzisionsbearbeitung Teile
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Präzisions-Steckverbinder- und Komponentenprüfung
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Advanced-optical-research & Charakterisierung optischer Komponenten
Xi'an Jiaotong University – Fortgeschrittene Materialwissenschaften und experimentelle Beobachtung der Präzisionsoptik
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalyse anorganischer Keramik und neuer Energiematerialien
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde 2011 offiziell gegründet. Unser Gründerteam ist gewachsen tief verwurzelt Fachwissen im Bereich optischer Inspektionsinstrumente, das bis ins Jahr 2005 zurückreicht. Wir sind ein technologieorientiertes Unternehmen liefern Full-Cycle-Services, die Design, Forschung und Entwicklung, weltweiten Vertrieb und After-Sales-Support für Industriemikroskope umfassen. Unser Kern Das Ingenieurteam verfügt über mehr als zehn Jahre Erfahrung in der Entwicklung spezieller optischer Instrumente, um dies sicherzustellen Bewährte-stabile-Technologie und gleichbleibend-zuverlässige-Qualität.
GAOPIN unterhält einen umfangreichen Produktkatalog mit über hundert Modellen optischer Instrumente für die ganze Welt Kunden. Wir entwickeln flexible, kostengünstige, maßgeschneiderte Mikroskopie-Lösungen für vielfältige industrielle Inspektions- und Inspektionsaufgaben Labor-Forschungsanforderungen.
Für Kunden im Ausland steht ein schneller globaler technischer Support zur Verfügung, einschließlich Online-Meetings, Schritt-für-Schritt-Videoanleitungen und Fernschulungen. Unser Produktionsstandort befindet sich in Kunshan, Jiangsu Provinz (in der Nähe von Shanghai). Werksbesichtigungen vor Ort und virtuelle Online-Touren sind willkommen. Bitte kontaktieren Sie unser Vertriebsteam für Authentische Probentestbilder, die mit diesem metallurgischen Wafer-Inspektionsmikroskop mit 4K Ultra HD aufgenommen wurden bewerten Abbildungsleistung in der realen Welt.
A1: Ausgestattet mit zwei Schnittstellen: HDMI-High-Definition-Ausgang und LAN-Anschluss. Es unterstützt die Echtzeitbildgebung von Direkter Anschluss an einen Monitor und Computerverbindung über ein Netzwerkkabel. Ohne USB- und WLAN-Schnittstellen unterstützt sowohl den unabhängigen Betrieb als auch die gemeinsame Arbeit am Computer.
A2: Es unterstützt 4K-Ultra-HD-Foto- und Videoaufnahmen. Dateien können auf einer FAT32-formatierten U-Disk mit einer Kapazität von 32 GB gespeichert werden Kapazität oder Computerspeicher. Unterstützt präzise Messungen sowohl auf dem Bildschirm als auch per PC-Software, mit Datenspeicherung und Report-Export-Funktionen.
A3: Netzteil und passenden Adapter prüfen; HDMI-Kabel fest befestigen; Monitor auf korrekte HDMI-Signalquelle umschalten; Starten Sie das Gerät neu, um Probleme mit schwarzem Bildschirm und fehlendem Bild zu beheben.
A4: Dies ist ein Modell mit manuellem Fokus. Stellen Sie das Fokus-Handrad langsam ein, um eine scharfe Abbildung zu erzielen. Objektiv fest verriegeln, auflegen Legen Sie die Probe flach ab und reinigen Sie die Linse regelmäßig von Staub und Flecken.
A5: Stellen Sie sicher, dass sich Mikroskop und PC im selben IP-Segment befinden. Firewall und Abhörsoftware deaktivieren; neu setzen Netzwerkkabel; Starten Sie das Gerät und die unterstützende Messsoftware neu, um eine normale Verbindung herzustellen.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
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