GP-L600-462H ist ein metallurgisches 4K-Ultra-HD-Autofokus-Mikroskop für die Waferinspektion. Es übernimmt Unendlich korrigiertes optisches System für schnelles Umschalten zwischen Hellfeld- und Dunkelfeld-Beobachtungsmodus. Das Hellfeld wird für die routinemäßige metallografische Mikrostrukturbeobachtung verwendet. Dunkelfeld sorgt für verbesserten Kontrast für winzige Oberflächenfehler, Kratzer und Partikelverunreinigungen. Der Trinokularanschluss unterstützt die Kamerainstallation und Verbindung zwischen metallurgischer Analyse und Software. Gut geeignet für metallografische Forschung, Halbleiterinspektion und Arbeitsabläufe zur Erkennung von Werkstückoberflächenfehlern.
Dieses Instrument eignet sich zur mikroskopischen Beobachtung metallografischer Mikrostrukturen und Oberflächenmorphologie. Es dient als ideales Forschungsinstrument für die Disziplinen Metallurgie, Mineralogie und Feinmechanik.
Im Trinokulargehäuse integrierte 4K-Kamera zur gleichzeitigen Betrachtung über Okular und Monitor. Multi-Port-Ausgabe über HDMI, USB3.0 und WLAN übertragen Ultra-HD-Mikrobilder in Echtzeit.
Unterstützt DIC-, Hellfeld-, Dunkelfeld- und Polarisationslichtbeobachtung. 4-stufige Vergrößerung, optisch 50-500X, max digital Bis zu 1900-fache Vergrößerung für scharfe Details bei der Prüfung von Mikromerkmalen.
Integriertes Hardware-Autofokusmodul, manueller Fokusmodus ist ebenfalls verfügbar. Ermöglicht eine gleichmäßige, vibrationsfreie Fokussierung und verbessert die Effizienz bei Massenprobentests.
Dicker integrierter Metallständer und Bühnenhalterung mit niedrigem Schwerpunkt für stabile Leistung lange Dauer Laborbeobachtung.
Modularer optischer Aufbau mit starrer Metallstruktur, gut geeignet für Labore, Forschungsinstitute und Halbleiter Produktionsanlagen.
Ideal für die Wafer- und Chip-Inspektion; Wird auch häufig für Halbleitertests, metallografische Analysen usw. eingesetzt. Materialforschung und Präzisions-Qualitätsbewertungsarbeiten.
4K-Foto- und Videoaufnahme, zwei Messmodi (im Bildschirm integriert + PC-Software). Dual-Speicherung über U-Disk & Computer. Die Tiefenschärfesynthese funktioniert sowohl auf dem Monitor als auch in der PC-Software; Die Funktion zum Zusammenfügen von Bildern ist nur in verfügbar PC-Software. Unterstützte Sekundärentwicklung für Bildarchivierung, Vergleich und erweiterte Analyse.
1. Optische Beobachtungsmodi:Unterstützt Multimode-Optik einschließlich DIC, Hellfeld, Dunkelfeld und polarisiertes Licht zur Beobachtung von Kristall- und Beschichtungstexturen. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope liefern nur verfügt über ein einfaches Hellfeld und kann keine ultradünnen Schichten und Kristallmikrostrukturen sichtbar machen.
2. Bildgebungssystem:Native 4K-Ultra-HD-Kamera, synchronisierte Okular- und Monitoranzeige. Gewöhnlich Metallurgische Mikroskope liefern hochauflösende 2K-Bilder und nur die Betrachtung mit dem Okular mit verschwommenen, verzerrten Bildern unter starker Vergrößerung.
3. Vergrößerungseinstellung:190-1900-facher Viergang-Zoom, der den Makroüberblick und die Mikrodetails abdeckt Inspektion. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope haben weniger Vergrößerungsgeräte und verschwimmen bei hoher Leistung.
4. Messung und Aufzeichnung:Integrierte präzise Messung auf dem Monitor mit Foto-Video-Aufnahme Funktion. Herkömmliche metallurgische Mikroskope verfügen über keine integrierte Messung und benötigen für alle eine PC-Software Mess- und Archivierungsarbeiten.
Mechanik:Vollmetallkonstruktion für hohe Steifigkeit und Vibrationsfestigkeit. Hardware-Autofokus Modul ausgestattet, manueller Fokus ist ebenfalls verfügbar. Präzise Grob-Fein-Fokussierung ohne Spiel. Hochpräzise manueller XY-Kreuztisch mit geringem Verschleiß und minimalem Spiel. Der trinokulare Strahlengang bleibt optisch erhalten Koausrichtung während der Vergrößerungsumschaltung.
Optik:Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive mit Antibeschlag-Hartbeschichtung. Durchlicht-Auflicht-Halogenlampenbeleuchtung 12V-100W.
Bildgebung und Messung:4K-Industrie-CMOS-Kamera. Multi-Ausgang: HDMI + USB3.0 + WIFI, gut Anti-Interferenz-Leistung für den Einsatz in industriellen Umgebungen. Unterstützt eingebettete On-Monitor-Messungen und PC-Software-Messung. Dual-Path-Speicherung über U-Disk und PC-Software. Die Tiefenschärfesynthese funktioniert in beiden Fällen On-Monitor- und PC-Software; Bildzusammenfügung wird ausschließlich durch PC-Software unterstützt. Sekundäre Entwicklungsschnittstelle verfügbar über USB3.0 / WIFI.
Betriebsumgebung:Arbeitstemperatur 10–35 °C, relative Luftfeuchtigkeit 30–75 % relative Luftfeuchtigkeit. Stabil unter Normalbedingungen Elektromagnetische Umgebung der Fabrik. Vermeiden Sie starke Vibrationen, korrosive Gase und starken Staub. Halten Sie das WLAN-Modul fern starke Signalstörquellen.
Qualität und Wartung:Vollständige Werksinspektion. Demontieren Sie keine optischen Module oder Autofokus-Modul. Regelmäßige staubdichte Reinigung verlängert die Lebensdauer.
Halbleiter und Mikroelektronik (Kern-DIC-Anwendung):
Siliziumwafer, Lithografiescheiben, IC-Chips, Leiterplatten, flexible FPC-Schaltkreise, Lötverbindungen, Verpackungskomponenten.
Inspektionsziele: Chip-Oberflächentopographie, Wafer-Ätzmuster, Nanokratzer, Kaltlötstellen,
Oxidation und Stiftverformung. Differential-Interferenz-Kontrast (DIC) hebt subtile Oberflächen-Höhenunterschiede hervor
für die Mikroschaltungs-Scheibenbeobachtung im Vergrößerungsbereich von 190–1900fach.
Metallografische Metallproben:
Metallografische Abschnitte aus Legierung, präzisionsgestanzte Metallteile.
Prüfziele: Metallkornstruktur, Wärmebehandlungsanalyse, Mikrooberflächenrisse, Kantenausbrüche, feine Grate,
Verschleißspuren und innere Materialverunreinigungen. Hellfeld-/Dunkelfeld-/polarisiertes Licht-Modi verfügbar für
Beobachtung der Metallkristallstruktur.
Laborforschungsproben: Kristall, Pulver, Fasern und Dünnschicht:
Chemische Kristalle, Metallpulver, Kohlefasern, Textilfasern, optische Beschichtungsfilme.
Beobachten Sie Kristallmorphologie, Partikelumrisse, Filmdelaminierung und Mikrobeschichtungstexturen; polarisiertes Licht
identifiziert Kristallpolarisationseigenschaften.
Optoelektronische Präzisions-Kunststoffkomponenten:
LED-Chips, optische Linsen, Glassubstrate, Klebstoff für Halbleiterverpackungen.
Erkennen Sie Mikroporen, Nanokratzer, Kleberablösungen, Blasen und subtile Oberflächenunebenheiten.
Hochpräzise Miniaturbauteile:
Steckverbinder, Anschlüsse, Mikrofedern, winzige gestanzte Werkstücke.
4K-Pixel-genaue Messung von Lücken, Lochdurchmessern, Steigungen und Oberflächenhöhenunterschieden; DIC visualisiert
subtile Crimpverformung.
Universitätslabore und Qualitätskontrolle für High-End-Halbleiter:
Materialforschungsexperimente, Wafer-Wareneingangskontrolle, metallografische Probenbeobachtung; Foto-Video
Archivierung, Export präziser Messberichte über PC.
Ausgestattet mit nativer 3840*1080-kompatibler 4K-Bildgebung. Geeignet für metallografische Analysen und Chip-Schaltkreis-Inspektion und Erstellung professioneller Testberichte; Zeigt deutlich Metallkörner, Mikrokratzer und winzige Mikrodefekte.
Ausgestattet mit Hardware-Autofokus, geeignet für die Massenproduktionsprüfung und den häufigen Probenaustausch. Wird schnell erreicht Fokussierung nach der Probenbewegung ohne wiederholte manuelle Anpassung, um die Testeffizienz zu verbessern. Der manuelle Fokusmodus ist ebenfalls verfügbar für die statische Probenbeobachtung verfügbar.
Standardmäßiger manueller beweglicher Tisch und vertikaler trinokularer metallurgischer Strahlengang für kleine bis mittelgroße Spanscheiben Leiterplatten und Metallproben, wodurch reflektierende Blendung bei der metallografischen Inspektion wirksam unterdrückt wird. Motorbetriebener XY-Tisch kann sein als optionales Upgrade ausgewählt.
Doppelter Vergrößerungsbereich: 50–500-fache optische Vergrößerung, 190–1900-fache digitale Vergrößerung. Deckt beide Vollexemplare ab Übersicht und Mikrokorn-/Mikrofehlerinspektion.
Unterstützt integrierte On-Device-Messungen und PC-Software-Messungen. Ausgestattet mit HDMI-, USB3.0- und WIFI-Ausgang Häfen. Fotos, Videos und Messdaten können per U-Disk oder Computer gespeichert werden. Sekundärentwicklung unterstützt für Integration in die Produktionslinie und Rückverfolgbarkeit von Labordaten.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Artikel | Beschreibung |
| Produkt | GP-L600-462H Wafer-Inspektion, metallurgisches Mikroskop mit 4K Ultra HD und Autofokus |
| Kategorie | Trinokulares metallurgisches Mikroskop in Laborforschungsqualität, das DIC-Differentialinterferenz unterstützt, Hellfeld-/Dunkelfeld-/polarisierte Lichtbeobachtung |
| Kerntechnologien | Trinokulares synchrones optisches System, integrierte Multimode-Beleuchtung (Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisator, Differential-Interferenz-Kontrast DIC), hochpräziser Profi metallurgisch Objektivsatz, 4K-Ultra-HD-CMOS-Bildsensor, Hardware-Autofokusmodul, Dreikanal Übertragung (HDMI+USB3.0+WIFI), Dual-Messsystem, Tiefenschärfesynthese und Bildstichalgorithmus, Offene Architektur, die die Integration von Sekundärentwicklungen unterstützt |
| Wichtige Spezifikationen | Visuelle Vergrößerung: 50/100/200/500×; Elektronische Vergrößerung: 190/380/760/1900×; Dreifach-Ausgangsports: HDMI + USB3.0 + WLAN; 4K-Aufnahmeauflösung: 3840×2160; Ausgestattet mit Hardware-Autofokus (auch manueller Fokus). verfügbar); Duale Messmodi: integrierte präzise Messung + abgestimmte PC-Software-Messung; Dual-Speichermodi: U-Disk-Speicher + Computer-Software-Speicher; Monitor-Terminal unterstützt dimensional Messung, HD-Bildvorschau, Foto-Videoaufzeichnung, Tiefenschärfesynthese; PC-Terminal unterstützt Dimensionsmessung, Dateispeicherung, Tiefenschärfesynthese und Bildzusammenfügung; Stützen für die gesamte Einheit Sekundärentwicklungsintegration. |
| Typische Anwendungen | Halbleiter-Wafer-Fehleranalyse, metallografische Inspektion von Metallmaterialien, Beschichtung von Dünnfilmen Mikrostrukturbeobachtung, Präzisions-Halbleiter-Gehäuseprüfung, fortgeschrittene-Material-Laborforschung, Beobachtung von medizinischen Biomaterialien, Mikrodefekterkennung für elektronische Komponenten |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Standort des Herstellers | Kunshan, Jiangsu, China (angrenzend an Shanghai) |
| Modell | GP-L600-462H |
| Auflösung | 3840×2160 |
| Wirklich effektive Pixel | 8.300.000 Pixel |
| Fokussierungsmethode | Autofokus |
| Optisches Format | 1/1,8" |
| Pixelgröße | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Ausgabemethode | HDMI + USB3.0 + WLAN |
| Detaillierte Funktionseinführungen für jede Ausgabeschnittstelle | ① HDMI verbindet sich mit 4K-kompatiblen Displays. Integrierte professionelle Bildverarbeitungs-Firmware unterstützt
Hardwaregesteuerter Autofokus, Fotoaufnahme, Videoaufnahme, Dimensionsmessung, Bildwiedergabe
und
Bildvergleich, bedienbar per Maus in Echtzeit. ② USB 3.0 wird mit dem Computer verbunden, im Lieferumfang enthalten hochwertige professionelle Bildverarbeitungssoftware für Fotoaufnahme, Dimensionsmessung, Tiefenschärfefusion und Bildzusammenfügung. ③ WIFI-Modul verbindet sich mit Laptops oder Mobilgeräten; Echtzeit Bildübertragung, Fotografie und Speicherung über passende Software. |
| Bildrate | HDMI: 60fps bei 3840×2160 USB3.0: 30fps bei 3840×2160; 60fps bei 1920×1080 WLAN: 30fps bei 3840×2160; 60fps @1920×1080 |
| Tiefenschärfesynthese | Unterstützt sowohl von HDMI-On-Monitor-Firmware als auch von PC-Software |
| Bildzusammenfügung | Wird nur auf der PC-Softwareseite unterstützt |
| Messmethode | Integriertes On-Monitor-Messsystem + PC-Software-Messung |
| Messgenauigkeit | 0,002–0,005 mm |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4 umschaltbare Einheiten) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Bogenmaß, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung hinzufügen, automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste und mehr |
| Speichermethode | U-Disk-Speicher + PC-Software-Speicher |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz Hauptsteuerungsprozessor |
| Betriebssystem | Unabhängig entwickelte Mess-Firmware basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Bildbenennung | Automatische oder manuelle Benennung verfügbar |
| Betrachtungskopf | 30° geneigter Trinokularkopf mit Scharnier; Verstellbereich zwischen den Pupillen: 54–76 mm; zwei Strahlteilung Verhältnisse: 100:0, 0:100 |
| Beobachtungsmodi | ★ Hellfeld / Dunkelfeld / Polarisiertes Licht / DIC (DIC-Hardware ist optional) |
| Beleuchtungssystem | Durchlicht-Auflicht-Falllicht-Beleuchtungssystem, 100-240V Weitspannungseingang, einstellbar Filament mittig, stufenlos einstellbare Lichtintensität. |
| Stand | ① Durchlicht-Reflex-Rack mit doppeltem Verwendungszweck; Koaxialer Grob-Fein-Fokussiermechanismus mit niedriger Zeigerposition.
Grobverstellhub: 33 mm; Feineinstellungsgenauigkeit: 0,001 mm. Ausgestattet mit Verriegelung und Begrenzung
Geräte. ② Hellfeld- und Dunkelfeldreflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Montage mit einstellbarer Mitte. ③ Interferenzfilter und Farbausgleichsplatte (Weißlicht) für Strahlengang des reflektierten Lichts. ④ Hell-Dunkelfeld-Schaltgerät; Steckplätze für Farbfilter und polarisierendes Zubehör. |
| Mechanische Bühne | 4-Zoll manueller mechanischer Tisch. Bühnenabmessung: 230 mm × 215 mm; X-Y-Verfahrweg: 105 mm × 105 mm. Glas Probenträgerplatte für Durchlicht- und Auflichtbeobachtung. |
| Lichtquelle | 12V 100W Halogenlampenkammer (Auflicht); 12V 100W Halogenlampe (Durchlicht). |
| Polarisationsfunktion | 30-Grad-Polarisatorfassung (reflektiertes Licht); Um 360° drehbarer Analysatorsockel für polarisiertes Licht Beobachtung. |
| Okulare | Zwei PL10X/22 mm Weitwinkel-Planfeldokulare mit einstellbarer Dioptrie (ein Okular mit Strichplatte). Skala). |
| Nasenstück | ★ Hell-Dunkelfeld-Objektivrevolver mit fünf Löchern |
| DIC-Funktion | Differential-Interferenz-Kontrast-Funktion; DIC-Einschubplatinenzubehör ist optional und nicht im Lieferumfang enthalten in Standardkonfiguration. |
| Elektronische Schnittstelle | 0,5-fache C-Mount-Kameraschnittstelle, einstellbarer Fokus; CTV 1X ist optional mit Preisdifferenzausgleich erhältlich. |
| Metallurgische Ziele | ★ Halbzerstörende metallurgische Hell-Dunkelfeld-Ziele ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, funktionsfähig Abstand: 9,00 mm ×1Stk ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, Arbeitsabstand: 9,00 mm ×1 Stk ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Arbeitsabstand: 3,40 mm ×1 Stk ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, Arbeitsabstand: 7,50 mm ×1 Stk ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Arbeitsabstand: 2,10 mm (optional, nicht im Standardpaket enthalten) |
| Optische Vergrößerung | 50X, 100X, 200X, 500X (vierstufig umschaltbar) |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 190X, 380X, 760X, 1900X (vierstufig umschaltbar); optionaler Vergrößerungsbereich: 380-3800X. |
GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Prüfung und Fehleranalyse optoelektronischer Komponenten
Xi'an Jiaotong University – Fortgeschrittene Materialwissenschaften und experimentelle Beobachtung der Präzisionsoptik
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Advanced-optical-research & Charakterisierung optischer Komponenten
Tianjin University of Commerce – Material-Labor-Lehre, Mikrobildgebung und experimentelle Datenarchivierung
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalyse anorganischer Keramik und neuer Energiematerialien
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- und Mikrofehlererkennung für Präzisionsgefertigte Teile
A1: Ausgestattet mit HDMI-, USB3.0- und WIFI-Schnittstellen. Es unterstützt die direkte Monitoranzeige und kabelgebundene/kabellose PCs Verbindung zur kollaborativen Erkennung.
A2: Es unterstützt 4K-Ultra-HD-Foto- und Videoaufnahmen. Dateien können auf einer FAT32-formatierten U-Disk mit einer Kapazität von 32 GB gespeichert werden Kapazität oder Computerspeicher. Unterstützt präzise Messungen sowohl auf dem Bildschirm als auch per PC-Software, mit Datenspeicherung und Report-Export-Funktionen.
A3: Netzteil und passenden Adapter prüfen; Befestigen Sie das HDMI-Kabel fest und schalten Sie den Monitor auf die richtige Signalquelle um. Starten Sie das Gerät neu, um die Fehler „Schwarzer Bildschirm“, „Kein Bild“ und „Bildschirmflimmern“ zu beheben.
A4: Dieses Modell unterstützt Hardware-Autofokus und manuelle Fokus-Dual-Modi. Für eine schnelle Bildaufnahme können Sie den Autofokus aktivieren oder manuell feinabstimmen. Objektiv fest verriegeln, Probe flach hinlegen, Linse regelmäßig von Staub und Fingerabdrücken befreien scharf Bildgebung.
A5: Es unterstützt die kabelgebundene USB- und kabellose WLAN-PC-Verbindung. Offizielle Messsoftware installieren, Firewall deaktivieren oder Abfangprogramme, schließen Sie die Hardware wieder an und starten Sie die Software neu, um eine normale Erkennung zu gewährleisten.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde 2011 offiziell gegründet. Unser Gründerteam hat viel Geld gesammelt Erfahrung in der Branche der optischen Inspektionsinstrumente seit 2005. Wir bieten Dienstleistungen rund um den gesamten Zyklus an Produktdesign, interne Forschung und Entwicklung, weltweiter Vertrieb und umfassende After-Sales-Wartungsdienste. Unser Das qualifizierte Ingenieurteam verfügt über mehr als zehn Jahre Erfahrung in der Entwicklung optischer Instrumente, um dies sicherzustellen stabile technische Leistung und zuverlässige Produktqualität.
GAOPIN liefert mehr als einhundert Kategorien optischer Prüfinstrumente Industrie-und-Labor-Kunden weltweit. Wir entwickeln flexible, kostengünstige maßgeschneiderte Mikroskopie-Lösungen für diverse-industrielle-Qualitätskontrolle und Labor-Analyse-Projekte.
Für Käufer im Ausland bieten wir reaktionsschnellen weltweiten technischen Support, einschließlich Remote-Online-Beratung, Praktische Video-Tutorials und Live-Remote-Equipment-Bedienungstraining. Unsere Produktionsstätte befindet sich in Kunshan, Provinz Jiangsu (in der Nähe von Shanghai). Werksbesichtigungen vor Ort und virtuelle Online-Touren sind willkommen. Bitte kontaktieren Sie uns unser Vertriebsteam für authentische Probentestfotos, die mit diesem metallurgischen Wafer-Inspektionsmikroskop mit 4K aufgenommen wurden Ultra HD und Autofokus zur Bewertung der realen Bildleistung.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
Tel
