Dieses metallurgische Metallanalysemikroskop mit 4K Ultra HD wurde für die Mikroinspektion von Materialien entwickelt und ist ein leistungsstarkes metallurgisches Metallanalysemikroskop Mikroskop mit 4K Ultra HD. Es verfügt über eine erstklassige, unendlich korrigierte Optik und liefert gestochen scharfe Bilder sowohl für transparente als auch für transparente Bilder undurchsichtig Proben. Das modulare Design ermöglicht flexible Upgrades der Hellfeld- und Polarisationslichtfunktionen nach dem Verkauf. Verstärkt Anti-Vibrations-Chassis verhindert Bildversatz bei starker Vergrößerung. Benutzerfreundliche Bedienelemente und geräumige Bühne ermöglichen kontinuierliche Langzeittests. Auswählbare kombinierte Module senken die Kosten für den Austausch der gesamten Maschine, ideal für professionelle industrielle Inspektions- und metallurgische Analysearbeiten.
4K-Kamera mit integrierter trinokularer metallurgischer Fassung, die eine gleichzeitige Betrachtung mit Okular und Bildschirm ermöglicht. Dual-Ausgang Anschlüsse: HDMI und Gigabit-LAN für die Aufnahme ultraklarer Mikrobilder in Echtzeit.
Optische Vergrößerung 50–600 ×, maximale digitale Vergrößerung 4560 × mit vierstufigem Objektivzoom. Präzision optischer Pfad Erfasst winzige Mikrodetails von Halbleiter-, Pulver- und Faserproben.
Die dicke Basis aus Aluminiumguss garantiert eine ausgewogene Gewichtsverteilung, ohne Wackeln oder Verrutschen bei längerer Nutzung Scheibeninspektion und Materialanalyse.
Minimalistisches weiß-blaues Trinokular-Layout, professionelle Laborästhetik für Forschungslabore und Industrie Qualitätskontrollwerkstätten.
Gut geeignet für die Prüfung von Halbleiterwafern, metallmetallografische Analysen, Pulver- und Faserbeobachtung, universitäre Forschung und Bauteilqualitätsprüfung.
Unterstützt native 4K-Foto- und Videoaufnahme. Duale Messmodi: integrierte Messung auf dem Monitor und PC-Softwarebasiert Messung. Dual-Speicher: Lokaler Speicher auf USB-Flash-Laufwerk + PC-Software-Archivierung. Tiefenschärfe-Stacking und Bildzusammenfügung ist über PC-Software möglich; Sekundäre Entwicklungsschnittstelle wird aus praktischen Gründen unterstützt Bildarchivierung, Vergleich und erweiterte Datenanalyse.
Binokulare Beobachtung und synchrone elektronische Beobachtung:Synchronisierte Anzeige zwischen Okular und überwachen. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur die Betrachtung mit dem Okular; zusätzliches Kamerazubehör ist vorhanden für die Bildschirmausgabe erforderlich.
Native 4K-Ultra-High-Definition-Bildgebung:Liefert eine 4K-Auflösung von 3840 × 2160. Am konventionellsten Metallurgische Mikroskope sind auf eine Auflösung von 1080P beschränkt.
Dual-Output-Schnittstellen:HDMI + Gigabit-LAN-Netzwerkanschluss. Meistens traditionelle metallurgische Geräte Sie haben nur eine PC-USB-Verbindung und keine Netzwerkübertragungsfähigkeit.
Duale Messmodi:Integrierte Offline-Messung auf dem Monitor plus PC-Software-basierte Messung. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur PC-seitige Messungen ohne in die Hardware eingebettete Messfunktion.
Dual-Speichermodi:Offline-Speicherung von USB-Flash-Laufwerken und PC-Softwarespeicherung; Daten speichern mit oder ohne Host-PC. Herkömmliche Modelle erfordern einen PC zur Bildspeicherung.
Erweiterte Bildbearbeitungsfunktionen auf dem PC:Funktionen zum Stapeln der Schärfentiefe und zum Zusammenfügen von Bildern sind über unterstützende PC-Software verfügbar. Allgemeine metallurgische Mikroskope verfügen über keine derartigen Algorithmusfunktionen.
Unterstützte Sekundärentwicklung:Gigabit-LAN ermöglicht die Systemintegration für Einsatz automatisierter Produktionslinien. Allgemeine metallurgische Mikroskope können die Sekundärentwicklung nicht unterstützen Integration.
Modular erweiterbarer Strahlengang:Unterstützt das Hinzufügen von Polarisationslicht- und anderen Beobachtungsmodulen ohne die ganze Einheit auszutauschen. Herkömmliche Digitalmikroskope verfügen nicht über einen speziellen metallurgischen Strahlengang und können dies auch nicht Beobachten Sie feine metallurgische Mikrostrukturen.
Verwendung eines nativen 3840 × 2160 4K-Industriebildsensors, kalibriert mit metallurgischen Standards nach nationalem Standard Mithilfe von Kalibrierungsobjektträgern erreicht das Gerät eine hochpräzise Wiederherstellung mikroskopischer Morphologien wie der Metallkörnung Strukturen, Mikrotexturen von Halbleiterwafern, Pulverpartikelformen und Faser-Gewebe-Eigenschaften. Es erkennt einheitliche Vollfeld-Bildschärfe ohne periphere Unschärfe oder Signaldämpfung.
Ausgestattet mit einem vierstufigen Objektivsystem mit variabler Vergrößerung deckt das Instrument eine Gesamtvergrößerung ab Bereich von 380-4560 ×. Es erfüllt zwei Anwendungsanforderungen: makroskopisches Vollbild-Scannen mit geringem Stromverbrauch und Ultrahochleistungsfähige mikroskopische Mikrostruktur-Feinanalyse, vollständig anwendbar auf universitäre wissenschaftliche Forschung, Materialanalyse und industrielle Hochpräzisions-Qualitätsprüfung.
Das eingebettete professionelle metallurgische Messmodul unterstützt hochpräzise Dimensionsberechnungen und Echtzeit grafische Anmerkung. Es integriert einen hochauflösenden Schnappschuss mit einem Klick und eine dynamische Videoaufzeichnung über einen langen Zeitraum Funktionen. Alle Inspektionsdaten und Bilddateien unterstützen den Export und die dauerhafte Archivierung und bieten Unterstützung für gültige Daten akademisch- Versuchsberichte und Rückverfolgbarkeitssysteme in Industriequalität.
Der professionelle trinokulare optische Tubus ermöglicht die synchrone optische Okularbeobachtung und Digital-Display-Bildgebung. Das Zweiweg-Durchlicht- und Auflicht-Beleuchtungssystem ist kompatibel mit Proben aus undurchsichtigem Metall, transparente Pulverfaser-Schnittproben und Halbleiter-Wafer-Materialien. Die Präzisions-XY-Achse mechanisch bewegter Tisch zeichnet sich durch eine äußerst reibungslose Übertragung und hohe Positionierungsgenauigkeit aus und ermöglicht so eine effiziente und präzise Probenerkennung.
Halbleiter & Mikroelektronik:Siliziumwafer, Fotolithografiescheiben, IC-Chips, Leiterplatten, Flexible FPC-Schaltkreise. Prüfziele: Mikrochip-Schaltkreise, Beschichtungsfehler, Waferfehler, Kaltlötfehler, Schaltkreiskratzer und Pinverformung; Beobachten Sie Mikron-Scheibenstrukturen bei maximaler 4560-facher Vergrößerung.
Metallografische Metallproben:Metallografische Scheiben, Stahllegierungen, Bohrer, Fräser, Präzisionsgeprägte Hardware. Prüfziele: Metallographische Kornstrukturanalyse, Identifizierung von Wärmebehandlungsmaterialien; Kantenausbrüche, Mikrorisse, Grate und Abriebtiefe erkennen.
Laborproben: Pulver und Fasern:Metallpulver, chemisches Pulver, Kohlefaser, Textilfaser, Dünnschichtmaterialien. Inspektionsziele: Beobachten Sie Partikelmorphologie, Fasertextur, Filmdelaminierung usw Mikromaterialstrukturen.
Optoelektronische & Präzisions-Kunststoffteile:LED-Chips, optische Linsen, Spritzgussteile, Dichtungskleber. Inspektionsziele: Erkennen Sie Mikroporen, Oberflächenflecken, raue Kanten, Kleberblasen und winzige kosmetische Mängel.
Hochpräzise Miniaturbauteile:Steckverbinder, Klemmen, Mikrofedern, Miniatur-gestanzte Werkstücke. Inspektionsziele: Beobachten Sie kleine Lücken und Crimp-Flachheit; auf Pixelebene durchführen Präzise Messung von Länge, Lochdurchmesser und Steigung.
Archivierung der Qualitätskontrolle im Labor und in der Industrie:Materialforschungsexperimente, Wareneingang und Fertigware Stichprobenkontrolle; Foto- und Videoarchivierung für fehlerhafte Beweisaufzeichnungen und Export formaler Qualitätskontrollmessungen Berichte.
Maximal 600-fache optische Vergrößerung und bis zu 4560-fache digitale Vergrößerung mit nativer 4K-Auflösung von 3840 × 2160. Es klar Zeigt winzige Strukturen wie Metallkörner, Wafertexturen, ultradünne Beschichtungen und Mikrorisse an, ideal für High-Standard-Analyse von Chips, Neumaterialien und galvanisierten Teilen.
Zwei Messlösungen: schnelle integrierte Messung am Monitor, hochpräzise professionelle Messung über PC-Software. Zwei Speichermethoden: lokale Speicherung auf USB-Flash-Laufwerk und PC-Stapelarchivierung für Bilder und Messdaten.
Der trinokulare synchrone optische Pfad ermöglicht die gleichzeitige Betrachtung über binokulare Okulare und 4K-Monitor. Mehrere Bediener können dieselbe Mikroprobe gemeinsam überprüfen, ideal für den universitären Materialunterricht und QC-doppelte erneute Überprüfung und Diskussion im F&E-Team, um Fehleinschätzungen zu reduzieren.
Professionelle metallurgische Bühne mit mehreren Zielen für Metallproben, PCB-Beschichtungen, Halbleiterchips, Mineralscheiben und Dünnschichtmaterialien. Koaxiale Grob- und Feinfokussierung mit schwerem Antivibrationskörper, stabil für Eingangskontrolle, Neumaterialforschung und Langzeit-Statik-Laboranalyse.
Ausgestattet mit einem Gigabit-LAN-Anschluss, unterstützt Netzwerk-Bildübertragung und sekundäres Entwicklungs-Docking. Geeignet für Multi-Station-Labormanagement und automatisierte Fabrik-Workstation-Integrationsprojekte.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Juristische Person | Beschreibung |
| Produkt | GP-L300-324K Metallanalyse-Metallurgiemikroskop mit 4K Ultra HD |
| Kategorie | Industrielles trinokulares 4K-Hochleistungs-Metallographie-Inspektions- und Messmikroskop in Forschungsqualität |
| Kerntechnologien | Trinokulares optisches Synchronbeobachtungssystem, speziell für die Metallurgie mit hoher Leistung Objektivlinsengruppe, 4K-Ultra-High-Definition-CMOS-Bildsensor, duale digitale Mess-Engine (auf dem Bildschirm und PC-Software), HDMI + Gigabit-LAN Dual-Channel-Signalübertragung, Dual-Storage-Technologie, PC-seitige Tiefenschärfe Stapeln & Bild-Stitching-Algorithmus, offene Architektur, die die Sekundärentwicklung unterstützt |
| Wichtige Spezifikationen | Visuelle Vergrößerung: 50/100/400/600 ×; Elektronische Vergrößerung: 380/760/3040/4560 ×; Dual-Ausgang Häfen: HDMI + Gigabit-LAN; Aufnahmeauflösung: 3840 × 2160 (4K); Manuelle Fokussierung; Dual-Messmodi: eingebaut Messung am Gerät + Messung mit professioneller PC-Software *(0,001 mm, kleinere Messtoleranz kann sein unter höherer Vergrößerung erreicht. Ergebnisse unterliegen der Kalibrierung, Vergrößerung und Probe Bedingungen)*; Dual-Speicher: Lokaler Speicher des USB-Flash-Laufwerks *(Nur FAT32-formatiertes USB-Flash-Laufwerk bis zu 32 GB unterstützt)* + Computer-Dateispeicherung; Das Monitor-Terminal unterstützt HD-Bildvorschau, Dimensionsmessung, Foto- und Videoaufnahme; Das PC-Terminal unterstützt Messungen, Tiefenschärfe-Stacking, Bildzusammenfügung und Bildarchivierung, kompatibel mit sekundärer Entwicklungsintegration |
| Typische Anwendungen | Halbleiter-Wafer-Inspektion, metallmetallographische Strukturanalyse, Pulver-&-Faser-Mikrostruktur- Erkennung, Legierungskorninspektion, Materialschichtdickenprüfung, PCB-Querschnittsanalyse, Präzisions-Elektronikkomponenten-Fehleranalyse, Universitätslabor-Neue-Material-Forschung, Qualitätskontrolle von neuen Energiematerialien |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Standort des Herstellers | Kunshan, Jiangsu, China (in der Nähe von Shanghai) |
| Produktmarke | GAOPIN |
| Produktmodell | GP-L300-324K |
| Auflösung | 3840 × 2160 |
| Effektive Pixel | 8,3 Megapixel |
| Fokussierungsmethode | Manueller Fokus |
| Optisches Sensorformat | 1/1,7" |
| Pixelgröße | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Ausgabeschnittstellen | HDMI + Gigabit-LAN |
| Detaillierte Funktionseinführungen für jede Ausgabeschnittstelle | ① HDMI kann an 4K-Displays angeschlossen werden, verfügt über ein integriertes professionelles Bildverarbeitungsprogramm und integriert Funktionen
wie Autofokus, Fotoaufnahme, Größenmessung, Bildwiedergabe, Bildvergleich usw., mit
Echtzeit-Mausbedienung. ② LAN-Gigabit-Ethernet-Port, der an Router, Switches usw. angeschlossen werden kann oder Computer zur Netzwerkübertragung von Videobildern. Computer innerhalb desselben Netzwerksegments können gleichzeitig Bilder in Echtzeit durch Bildverarbeitungssoftware übertragen und Funktionen wie ausführen als Fotos machen und speichern. |
| Bildrate | HDMI: 60 fps bei 3840 × 2160 Gigabit-LAN: 20 fps bei 1920 × 1080 |
| Tiefenschärfe-Stacking | Nur über PC-Software verfügbar |
| Bild-Stitching | Nur über PC-Software verfügbar |
| Messbetrieb | Integriertes On-Monitor-Messsystem + PC-Software-basierte Messung |
| Messgenauigkeit | 0,001 mm |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4-fach umschaltbar) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Radius, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung, Automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste |
| Speichermethode | USB-Flash-Laufwerk + PC-Softwarespeicher |
| Bildbenennungsmodus | Automatische oder manuelle Benennung von Bilddateien |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max. 1,4 GHz Hauptsteuerungsprozessor |
| Firmware-Betriebssystem | Unabhängig entwickeltes Messsystem basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Beobachtungskopf | 30° geneigter trinokularer Beobachtungstubus, 360° drehbar, einstellbarer Augenabstand (53-75 mm) |
| Beobachtungsmethode | Hellfeld / Schräglicht / Durchlicht / einfache Polarisation |
| Beleuchtungssystem | Auflicht- und Durchlicht-Zweistrahl-Beleuchtungssystem, 100–240 V Weitspannung; einstellbar Filamentmitte, stufenlos einstellbare Lichtintensität |
| Ständergestell | ① Doppelzweckrahmen für Transmission und Reflexion, niedrige Handposition, grob und mikrokoaxial
Fokussierung
Mechanismus. Grobe Mikrokoaxialfokussierung, ausgestattet mit Verriegelungs- und Begrenzungsvorrichtungen, Mikrorasterwert:
2um. Beleuchtung mit Halogenlampen. ② Hellfeldreflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Farbfilter-Umwandlungsgerät. ③ Blaufilter und Milchglasscheibe für Reflexion konfigurieren. |
| Mobile Plattform | Doppelschichtiger mechanisch bewegter Tisch; Bühnengröße: 210 × 140 mm; X-Y-Hub: 75 × 50 mm; Glasbühne für übertragene und reflektierte Beobachtung |
| Lichtquelle | 6V-30W Halogenlampe für Auflicht; 12V-50W Halogenlampe für Durchlicht |
| Einfache Polarisation | 30° Polarisatoreinsatz (Auflicht) + 360° drehbarer Analysatoreinsatz für polarisierte Beobachtung |
| Elektronische Schnittstelle | 1X C-Mount-Schnittstelle, nicht einstellbarer Fokus [Optional: 0,5X C-Mount zur Preiskompensation] |
| Okular | Zwei Weitwinkel-Flachfeldokulare WF10X/22 mm (ein Okular mit Skalenmarkierung) |
| Metallurgische Objektivlinse | ★ Achromatische Objektivlinse mit unendlichem Flachfeld ① PL L5X/0,12 Arbeitsabstand: 26,1 mm pro Stück; ② PL L10X/0,25 Arbeitsabstand: 20,2 mm 1 Stück ③ PL L40X/0,60 Arbeitsabstand: 3,98 mm pro Stück; ④ PL L60X/0,70 Arbeitsabstand: 3,18 mm 1 Stück ⑤ PL L100X/0,85 Arbeitsabstand: 0,40 mm 0 Stück [Standard nicht im Lieferumfang enthalten, optional] |
| Optische Vergrößerung | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × vierstufig einstellbar |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × vierstufig einstellbar (erweiterbar auf 190-2280 ×) |
GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Advanced-optical-research & Charakterisierung optischer Komponenten
DOOV – Prüfung der Montage mobiler Geräte, Prüfung des Bildschirms und des Erscheinungsbilds von Komponenten
NIO Shanghai – Präzisionsinspektion für New-Energy-Autoteile und Kabelbaumbaugruppen
Beijing Institute of Technology – Wissenschaftliche Forschungsanalyse für militärische Materialien und Optoelektronische Geräte
GREE Electric Appliances (Hefei) – Präzisionsmaßmessung und Fehlerprüfung für Haushaltsgerätekomponenten
Technisches Institut für Physik und Chemie, CAS – Mikroskopische Forschung zu Tieftemperatur- und Spezial-Funktionsmaterialien
Objektiv & Okular:Blasen Sie den Staub mit einem Luftgebläse ab und wischen Sie die Linsen dann vorsichtig mit Linsenpapier ab Linsenreiniger. Berühren Sie optische Linsen niemals mit bloßen Händen und verwenden Sie zum Reinigen keine normalen Papiertücher.
Hauptteil und Bühne:Probenreste und metallurgisches Pulver umgehend entfernen. Wischen Sie das Gehäuse mit einem ab trockenes weiches Tuch; Vermeiden Sie Flüssigkeitsspritzer. Überprüfen Sie regelmäßig, ob die Stufenschrauben fest angezogen sind, um ein Verrutschen zu verhindern Kollisionen.
Durchlicht- und Reflexionslichtquelle:Schalten Sie die Lichtquelle aus, wenn das Mikroskop im Leerlauf ist. Schlag Entfernen Sie Staub vom Lichtfenster und berühren Sie die Glühbirne nicht direkt.
Mechanischer Fokusmechanismus:Drehen Sie das Fokushandrad nicht mit übermäßiger Kraft. Gleiten Sie weiter Spuren sauber; Schmieren Sie sie niemals selbst.
Lagerumgebung:An einem trockenen, gut belüfteten Ort aufbewahren, um Feuchtigkeit und Schimmel zu vermeiden. Decken Sie das ab Bewahren Sie das Gerät nach Gebrauch mit einer Staubschutzhülle auf.
Software & Kalibrierung:Kalibrieren Sie die Messskala, bevor Sie Messungen durchführen. Ganz nah Lesen Sie die zugehörige Software, bevor Sie die Stromversorgung unterbrechen. Zerlegen Sie das Gerät nicht ohne Genehmigung; Kontakt After-Sales-Service-Unterstützung bei Störungen.
A1: Visuelle Vergrößerung: 50–600 ×; Elektronische Vergrößerung: 380-4560 ×. Synchrone Betrachtung über Okular und überwachen ist vorhanden.
A2: Es unterstützt HDMI-Videoausgang und Gigabit-LAN-Anschluss. Es kann direkt an den Monitor angeschlossen werden oder über auf die Kamera zugreifen LAN-Netzwerk mit einem Computer.
A3: Aufnahmeauflösung: 3840 × 2160 (4K). Es unterstützt integrierte Bildschirmmessungen und PC-Software-basierte Messungen Messung. Dateien können auf einem USB-Stick oder über eine PC-Software gespeichert werden.
A4: ①Überprüfen Sie die Stromversorgung des Mikroskops. ②Stellen Sie sicher, dass das HDMI-Kabel fest angeschlossen ist. ③Wählen Sie die richtige HDMI-Eingangsquelle aus überwachen; ④Mikroskop-Host neu starten.
A5: ①Netzwerkkabel zwischen Gerät und Switch / PC anschließen; ②Stellen Sie PC-IP auf dasselbe Netzwerksegment wie die Kamera ein; ③Drehen aus PC-Firewall; ④Überprüfen Sie die IP-Einstellungen des Geräts und stellen Sie die Verbindung wieder her.
A6: Dieses Modell verfügt über ein Design mit manuellem Fokus. Drehen Sie das Fokus-Handrad langsam. Stellen Sie sicher, dass das Objektiv einrastet. Platzieren Sie die Probe flach und reinigen Sie den Staub auf der Objektivlinse.
A7: Verwenden Sie ein FAT32-formatiertes USB-Flash-Laufwerk mit einer Kapazität von 32 GB. Stecken Sie das USB-Flash-Laufwerk erneut ein oder formatieren Sie es, um es erneut zu versuchen.
A8: Ja, die Sekundärentwicklung wird unterstützt. Geeignet für metallographische Analysen, Metallwerkstoffe, Pulvermetallurgie, Halbleiterkomponenten-Beobachtung, wissenschaftliche Forschung und Lehrszenarien.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde 2011 gegründet, dessen Gründer seitdem Branchenexpertise gesammelt hat 2005 ist ein technologieorientiertes Unternehmen, das sich auf Design, Forschung und Entwicklung, Vertrieb und Kundendienst für die Industrie spezialisiert hat Mikroskope. Unser Kern-Engineering-Team verfügt über mehr als zehn Jahre Facherfahrung und stellt so eine ausgereifte Technologie sicher und zuverlässige Qualität. Mit mehr als hundert optischen Produktmodellen und einem globalen Kundenstamm ist GAOPIN kontinuierlich tätig liefert maßgeschneiderte, kostengünstige Mikroskopielösungen. Wir bieten schnellen globalen technischen Support durch Online-Konferenzen, videogestützte Anleitung und Fernschulungen. Unser Produktionsstandort befindet sich in Kunshan, Provinz Jiangsu (in der Nähe von Shanghai). Es stehen sowohl Werksbesichtigungen vor Ort als auch virtuelle Werksbesichtigungen zur Verfügung Kunden. Kontaktieren Sie uns gerne für Beispieltestbilder, die mit diesem GP-L300-324K Metal Analysis Metallurgical aufgenommen wurden Mikroskop mit 4K Ultra HD, um die Bildleistung aus erster Hand zu bewerten.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
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