GP-L500-300C ist ein metallografisches Mikroskop der Forschungsklasse mit einem extragroßen beweglichen Tisch für große Proben. Das großflächige metallurgische Mikroskop mit hoher Vergrößerung liefert 1080P-HD-Bilder zur Darstellung klarer Mikrostrukturdetails. Der Trinokularanschluss unterstützt die Kamerainstallation für Arbeitsabläufe bei der metallografischen Analyse. Es ist ideal für die Beobachtung großformatiger Materialien in der Metallurgie und im Halbleiterbereich Inspektion, PCB-Scheibenanalyse und Qualitätskontrollszenarien im industriellen Labor.
Dieses großflächige metallurgische Mikroskop mit hoher Vergrößerung eignet sich für die mikroskopische Beobachtung metallografischer Mikrostrukturen und Oberflächenmorphologie. Es dient als ideales Forschungsinstrument für die Disziplinen Metallurgie, Mineralogie und Feinmechanik.
Im Trinokulargehäuse integrierte HD-Kamera zur gleichzeitigen Betrachtung über Okular und Monitor. HDMI-Echtzeit-Mikrobild Die Ausgabe kombiniert Beobachtungs- und Aufzeichnungsworkflows.
Optische Vergrößerung 50-800X; Maximale rein digitale Vergrößerung bis zu 6080X mit fünf Objektiven. Präzision Der optische Pfad liefert scharfe Details für die Wafer- und Chip-Mikroinspektion.
Stabile Fokusknöpfe in Kombination mit der Objektiv-Fass-Baugruppe sorgen für sanfte Fokussierung und reduzieren Bildverwacklungen.
Übergroßer beweglicher Probentisch gepaart mit einer dicken Metallbasis. Bleibt bei großen Proben stabil und wackelt nicht während Langzeitbeobachtung.
Minimalistischer, komplett weißer, starrer Rahmen im Industriestil. Gut geeignet für Halbleiterwerkstätten und Universität Labore.
Optimiert für die Chip- und Wafer-Inspektion; Wird auch häufig für Halbleitertests, metallografische Analysen usw. eingesetzt. Materialforschung und Qualitätsbewertungsarbeiten.
1080P-Foto- und Videoaufnahme, integrierte präzise Messung auf dem Monitor, U-Disk-Speicherung. Digitale Bildbearbeitung vereinfacht die Datei Archivierung, Bildvergleich und Nachanalyse.
Binokulare Beobachtung plus synchrone elektronische Beobachtung:Okularansicht und Monitoranzeige funktionieren synchron. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur die Okularbeobachtung; zusätzliches Kamerazubehör ist vorhanden für die Bildschirmausgabe erforderlich.
Großer Tisch und ultrahohe Vergrößerung:Die maximale optische Vergrößerung erreicht das 800-fache; maximal Die rein digitale elektronische Vergrößerung erreicht das 6080-fache. Der übergroße bewegliche Tisch bietet Platz für großformatige Proben. Herkömmliche metallurgische Mikroskope sind mit kleinen Arbeitstischen ausgestattet und bieten eine geringere Elektronik Vergrößerung.
Direkter HDMI-Ausgang:Direkter Anschluss an den Monitor per HDMI-Kabel. Allgemeine metallurgische Mikroskope Für die Bildausgabe sind separate Kameras und Aufnahmekarten erforderlich.
Offline-Messung am Monitor:Die Dimensionsmessung kann direkt am Monitor durchgeführt werden PC-Anschluss. Herkömmliche metallurgische Mikroskope basieren ausschließlich auf PC-Software-Messungen.
Offline-U-Disk-Speicher:Speichern Sie Fotos und Videos ohne Computer auf U-Disk. Traditionelle Modelle Zum Speichern von Bildern muss eine Verbindung zum PC hergestellt werden.
Spezieller metallurgischer optischer Pfad:Optimiert für Metallkorn, Beschichtung und metallographische Materialanalyse. Gewöhnlichen digitalen Mikroskopen fehlt dieser spezielle optische Pfad und sie können dies auch nicht visualisieren metallographische Strukturen.
Mechanik:Robuster Vollmetallrahmen für hohe Steifigkeit und Vibrationsdämpfung. Präzision Koaxiale Grob-Fein-Fokussierung mit Rast- und Begrenzungsvorrichtung, Feinbewegungsteilungswert: 0,7 μm. Großformat Manueller XY-Tisch mit sanfter, verschleißarmer Bewegung. Der trinokulare Strahlengang behält die optische Ausrichtung beim Umschalten bei Ziele.
Optik:Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive. Reflektierte Halogenlampe Beleuchtung mit einstellbarer Helligkeit.
Bildgebung und Messung:2-Megapixel-1080P-HD-CMOS-Sensor, reiner HDMI-Ausgang. Integrierte Firmware Messung läuft am Monitor. Im Werk vorkalibriert; Parameter bleiben nach dem Ausschalten bestehen; keine tägliche Kalibrierung erforderlich. Datenspeicherung nur über kompatible U-Disk. PC-Verbindung, USB-Anschluss und Sekundärentwicklungsfunktionen sind NICHT vorhanden Unterstützt für GP-L500-300C.
Qualität und Wartung:Komplette optische Kalibrierung und Leistungsprüfung im Werk. Inspektion Berichte und Probeaufnahmen können auf Anfrage zur Verfügung gestellt werden. Bauen Sie die optischen Module nicht auseinander. Regelmäßig staubdicht Durch die Reinigung wird die Lebensdauer verlängert.
Halbleiterwafer und -chips (Kernanwendung):
Siliziumwafer, Lithografiescheiben, IC-Chips, MOS-Röhren, Leiterplatten, flexible FPC-Schaltkreise, verpackte Lötverbindungen.
Inspektionsziele: interne Mikrochip-Schaltkreise, Waferbeschichtungen, Ätzfehler, Verpackungsblasen, Kaltlöten
Verbindungen, Oxidation und Bolzenverformung.
Metallografische Proben und Hardware-Schneidwerkzeuge:
Metallografische Schnitte, legierter Stahl, Bohrer, Fräser, präzisionsgestanzte Metallteile.
Inspektionsziele: Metallkornstruktur, metallografische Analyse der Wärmebehandlung, Mikrooberflächenrisse,
Schneidenausbrüche, Grate, Verschleißspuren und innere Materialverunreinigungen.
Laborproben: Pulver, Fasern und Dünnschicht:
Metallpulver, chemisches Pulver, Kohlenstofffasern, Textilfasern, optische Beschichtungsfilme.
Beobachten Sie Partikelmorphologie, Fasertextur, Filmdelaminierung und Mikrobeschichtungsstrukturen.
Optoelektronische & Präzisions-Kunststoffkomponenten:
LED-Chips, optische Linsen, Spritzgussteile, Kleber für Halbleiterverpackungen.
Erkennen Sie Mikroporen, Oberflächenflecken, raue Kanten, Delaminierung, Blasen und kleine Schönheitsfehler.
Großformatige Präzisions-Miniaturkomponenten:
Steckverbinder, Klemmen, Mikrofedern, große gestanzte Werkstücke, langdimensionierte Teile.
Extragroßer beweglicher Tisch für übergroße Proben; Genaue Messung auf Pixelebene für Lücken, Lochdurchmesser,
Höhenunterschiede und Längenmaße.
Akademische Labore und Qualitätskontrolle in der Halbleiterfabrik:
Materialforschungsexperimente, Wareneingangs- und Fertigwarenvollprüfung für Halbleiter,
metallografische Probenbeobachtung; Foto-/Videoarchivierung.
Die erweiterte große Plattform ermöglicht die vollständige Beobachtung von Wafern, großen Leiterplatten und großen Metallscheiben ohne Probe schneiden. Perfekt für die Inspektion von Halbleiterwafern, Leiterplatten und großen Hardwarekomponenten.
Stufenverstellbare Vergrößerung: optisch 50x-800x; Maximale digitale Vergrößerung bis zu 6080X (rein digitaler Zoom). Aufnahmen Gesamterscheinung des Werkstücks und ultrafeine Details wie Spankreise, Metallkörner, Mikrokratzer und Beschichtung Poren. Ideal für Halbleiter-Forschungs- und Entwicklungstests.
Der trinokulare synchrone Lichtweg ermöglicht die gleichzeitige Beobachtung über binokulare Okulare und HDMI-Monitor. Geeignet für Diskussion im F&E-Team, doppelte Qualitätskontrolle und universitärer Laborunterricht zur Reduzierung von Fehleinschätzungen.
Single-HDMI-Ausgang mit integrierter On-Monitor-Messfunktion. Speichern Sie 1080P-Fotos und -Videos direkt auf konform U-Disk. Plug-and-Play mit einfacher Verkabelung. Passend für Basis-Inspektionsstationen in Halbleiterwerkstätten und Kleinmaterial Labore.
Dicker integrierter Antivibrationskörper zusammen mit koaxialer manueller Grob-Fein-Fokussierung. Reibungslose Fokussierung ohne Bildverschiebung während der kontinuierlichen Inspektion über viele Stunden hinweg. Geeignet für den täglichen Masseneingangstest für Wafer und Schaltkreise Bretter und Langzeitanalyse statischer Proben im Labor.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Artikel | Beschreibung |
| Produkt | GP-L500-300C Metallografisches Mikroskop für Forschungszwecke |
| Kategorie | Trinokulares metallurgisches Inspektionsmikroskop mit großer Plattform für die industrielle Forschung |
| Kerntechnologien | Trinokulares optisches System mit synchroner Betrachtung, großflächig beweglicher Probentisch, hohe Leistung metallurgisch Objektivsatz, HD-CMOS-Bildsensor, integriertes digitales Präzisionsmessmodul, HDMI-Echtzeit Video Ausgabe, lokale U-Disk-Bildspeichertechnologie |
| Wichtige Spezifikationen | Visuelle Vergrößerung: 50/100/200/500/800×; Elektronische Vergrößerung: 380/760/1520/3800/6080× (6080X ist rein digitaler Zoom); Ausgangsschnittstelle: nur HDMI; Aufnahmeauflösung: 1920*1080; Manuelle Fokussierung; Eingebaut präzise Messfunktion, U-Disk-Speicher; Das Monitorterminal unterstützt HD-Bildvorschau, Fotoaufnahme und Video Aufnahme. |
| Typische Anwendungen | Inspektion der Mikrostruktur von Wafern und Halbleiterchips, Beobachtung großer elektronischer Komponenten, Metall metallografische Kornanalyse, Erkennung von Verpackungskreisen, Inspektion von Leiterplattenquerschnitten, Neues-Energie-Material Tests, Laborforschung für fortgeschrittene Materialien |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Standort des Herstellers | Kunshan, Jiangsu, China (angrenzend an Shanghai) |
| Modell | GP-L500-300C |
| Auflösung | 1920×1080 |
| Wirklich effektive Pixel | 2 Megapixel |
| Fokussierungsmethode | Manueller Fokus |
| Optisches Format | 1/2" |
| Pixelgröße | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Ausgabemethode | HDMI |
| Detaillierte Funktionseinführungen für jede Ausgabeschnittstelle | HDMI kann mit 4K-kompatiblen Displays verbunden werden. Integrierte professionelle Bildverarbeitungs-Firmware unterstützt Fotoaufnahme, Videoaufnahme, Maßvermessung, Bildwiedergabe und Bildvergleich, bedient von Maus in Echtzeit. |
| Bildrate | HDMI: 60fps bei 1920*1080 |
| Tiefenschärfesynthese | / |
| Bildzusammenfügung | / |
| Messmethode | Integriertes On-Monitor-Messsystem |
| Messgenauigkeit | 0,001 mm |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4 umschaltbare Einheiten) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Bogenmaß, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung hinzufügen, automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste und mehr |
| Speichermethode | U-Disk-Speicher |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A7 Dual-Core bei max. 1,3 GHz |
| Betriebssystem | Unabhängig entwickelte Mess-Firmware basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Bildbenennung | Automatische oder manuelle Benennung verfügbar |
| Betrachtungskopf | 30° geneigter Trinokularkopf mit Scharnier; Verstellbereich zwischen den Pupillen: 53 mm–75 mm |
| Beobachtungsmodi | Hellfeld / Schrägbeleuchtung / einfache Polarisation |
| Beleuchtungssystem | Beleuchtungssystem mit nur reflektiertem Falllicht, 100–240 V Weitspannungseingang, verstellbarer Glühfaden Zentrum, stufenlos einstellbare Lichtintensität. |
| Stand | ① Aufnahmegestell, koaxialer Grob-Fein-Fokussiermechanismus in niedriger Handposition, mit Verriegelung und
einschränkend
Geräte; Feinstteilungswert: 0,7 μm. Auflichtbeleuchtung mit Halogenlampen. ② Hellfeld Reflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Farbfilter-Umschalteinheit. ③ Gelb, Blau, grün Für den optischen Strahlengang des reflektierten Lichts werden Filter und Milchglasscheiben mitgeliefert. |
| Mechanische Bühne | ★Mechanischer beweglicher Tisch. Bühnenabmessung: 280 mm × 270 mm; X-Y-Verfahrweg: 204 mm × 204 mm (8-Zoll-Verfahrweg). Glas Probenträgerplatte zur reinen Auflichtbeobachtung, geeignet für großformatige Werkstücke. |
| Lichtquelle | 6V 30W Halogenlampenkammer (nur Auflicht) |
| Einfache Polarisationsfunktion | Push-Pull-Polarisator und Analysator installiert |
| Elektronische Schnittstelle | CTV 1X-Kameraschnittstelle mit festem Fokus; CTV 0,5X ist optional mit Preisdifferenzausgleich. |
| Okulare | Zwei WF10X/22 mm Weitwinkel-Planfeldokulare mit individueller Dioptrieneinstellung |
| Nasenstück | ★Mingchang Fünf-Loch-Objektivrevolver |
| Metallurgische Ziele | ★Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive ① PL L5X/0,12, Arbeitsabstand: 26,1 mm ×1Stk ② PL L10X/0,25, Arbeitsabstand: 20,2 mm ×1 Stk ③ PL L20X/0,40, Arbeitsabstand: 8,80 mm ×1Stk ④ PL L50X/0,70, Arbeitsabstand: 3,68 mm ×1 Stk ⑤ PL L80X/0,80, Arbeitsabstand: 1,25 mm ×1Stk |
| Optische Vergrößerung | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (fünfstufig umschaltbar) |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (fünfstufig umschaltbar); optionaler Bereich: 190-3040X. |
GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
Tianjin University of Commerce – Materiallaborlehre, Mikrobildgebung und Archivierung experimenteller Daten
DOOV – Inspektion der Montage mobiler Geräte, Prüfung des Bildschirms und des Erscheinungsbilds von Komponenten
GREE Electric Appliances (Hefei) – Präzise Dimensionsmessung und Fehlerprüfung für Haushaltsgeräteteile
Lens Technology Co., Ltd. – Mikrofehlererkennung für Glasabdeckplatten und Telefonschutzplatten
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- und Mikrofehlererkennung für Präzisionsbearbeitung Teile
Dabo Medical – Mikromorphologieanalyse für medizinische Geräte und Biomaterialien vom Implantattyp
A1: Für die Echtzeit-Monitoranzeige ist nur eine HDMI-Schnittstelle vorhanden.
A2: Es unterstützt 1080P hochauflösende Foto- und Videoaufnahmen. Dateien können auf einer FAT32-formatierten U-Disk gespeichert werden 32 GB-Kapazität. Das integrierte Messtool auf dem Bildschirm unterstützt Maßmarkierung, Datenspeicherung und Messbericht exportieren.
A3: Fehlerbehebung bei fehlendem Bild: Überprüfen Sie die Stromversorgung, das HDMI-Kabel und die Signalquelle des Monitors und starten Sie dann das Gerät neu. Fehlerbehebung bei verschwommenen Bildern: Stellen Sie das Handrad für den manuellen Fokus ein, verriegeln Sie die Objektivlinse, legen Sie die Probe flach hin und reinigen Sie die Linse Oberfläche. U-Disk-Erkennungsfehler: U-Disk ersetzen oder neu formatieren (muss FAT32 und ≤32 GB sein).
A4: Geeignet für metallografische Beobachtung, Metallmaterialanalyse, pulvermetallurgische Prüfung, Präzisionsprüfung elektronischer Komponenten, wissenschaftliche Forschung und Lehrexperimente.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde 2011 offiziell gegründet. Unser Gründerteam ist gewachsen Erfahrung in der optischen Technologie seit 2005. Wir sind ein Hersteller von industriellen Inspektionsgeräten Umfassende Dienstleistungen: unabhängiges optisches Design, Produktforschung und -entwicklung, internationaler Vertrieb und langfristige After-Sales-Support für Industriemikroskope. Unsere hauseigenen Engineering-Spezialisten verfügen über mehr als zehn Jahre Berufserfahrung Entwicklung optischer Instrumente, um eine stabile technische Leistung und gleichbleibende Produktzuverlässigkeit sicherzustellen.
GAOPIN liefert mehr als einhundert Kategorien optischer Instrumente für weltweite Kunden. Wir liefern flexibel, Kostengünstige, maßgeschneiderte Mikroskopielösungen für vielfältige industrielle Tests und Laborforschungen Anforderungen. Globale Käufer im Ausland können schnellen technischen Support einschließlich Online-Video-Beratung erhalten. Schritt-für-Schritt-Anleitung zur Bedienung und Fernschulung der Geräte. Unsere Fabrik befindet sich in Kunshan, Provinz Jiangsu (nahe Shanghai). Werksbesichtigungen vor Ort und virtuelle Online-Touren sind willkommen. Bitte kontaktieren Sie uns für echte Mustertests Bilder aufgenommen mit diesem metallografischen Mikroskop der Forschungsklasse zur Bewertung der Bildqualität.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
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