GP-L500-324K ist ein metallografisches Mikroskop der Forschungsklasse mit 4K Ultra HD. Es unterstützt eine 5-stufige Vergrößerung schalten von 380× bis 6080×. Der eingebaute extragroße bewegliche Tisch bietet bequem Platz für große Proben. Das 4K-Ultra-HD-Metallurgiemikroskop in Forschungsqualität liefert es 4K Ultrahochauflösende Bilder mit scharfen Mikrostrukturdetails. Der Trinokularanschluss unterstützt die Kamerainstallation und Verbindung zwischen Metallographie-Analyse-Software. Es ist ideal für die metallurgische Beobachtung großformatiger Materialien. Halbleiter Inspektion, PCB-Scheibenanalyse und Qualitätskontrollarbeiten im industriellen Labor.
Dieses 4K-Ultra-HD-Metallurgiemikroskop in Forschungsqualität eignet sich für die mikroskopische Beobachtung metallografischer Mikrostrukturen und Oberflächenmorphologie. Es dient als ideales Forschungsinstrument für die Disziplinen Metallurgie, Mineralogie und Feinmechanik.
Im Trinokulargehäuse integrierte 4K-Kamera zur gleichzeitigen Betrachtung über Okulare und externen Monitor. Dual-Port Die Ausgabe über HDMI und Gigabit LAN überträgt Ultra-HD-Mikrobilder in Echtzeit.
Optische Vergrößerung 50-800×; Die maximale digitale Vergrößerung erreicht 6080X (reiner Digitalzoom) mit Fünf-Objektiv-Linse eingestellt. Der präzise optische Pfad liefert scharfe Details für die Chip- und Wafer-Mikroinspektion.
Koaxiale Fokusknöpfe in Kombination mit der verstärkten Objektiv-Fass-Baugruppe ermöglichen eine gleichmäßige Fokussierung und minimieren Bildverwacklungen.
Extragroßer beweglicher Probentisch gepaart mit dicker integrierter Metallbasis. Bleibt auch bei großen Proben stabil ohne Wackeln bei Langzeitbeobachtung.
Minimalistischer, integrierter starrer Metallrahmen im Laborstil, perfekt geeignet für Halbleiterwerkstätten und Universitäten Labore und QC-Einrichtungen.
Ideal für die Chip- und Wafer-Inspektion, Halbleiterprüfung, metallografische Analyse, Materialforschung, akademische Lehre und Qualitätsbewertungsarbeit.
4K-Foto- und Videoaufnahme, zwei Messmodi (im Bildschirm integriert + PC-Software). Dual-Speicherung über U-Disk & Computer. Die Funktionen zur Tiefenschärfesynthese und zum Zusammenfügen von Bildern laufen ausschließlich auf unterstützender PC-Software. Sekundärentwicklung ist Unterstützt über LAN-Port für Bildarchivierung, Vergleich und erweiterte Analyse.
Binokulare Beobachtung plus synchrone elektronische Beobachtung:Okularansicht und Monitoranzeige funktionieren synchron. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur die Okularbeobachtung; zusätzliches Kamerazubehör ist vorhanden für die Bildschirmausgabe erforderlich.
Große Bühne, ultrahohe Vergrößerung und 4K-Bildgebung:Maximale optische Vergrößerung erreicht 800X; Die maximale rein digitale elektronische Vergrößerung erreicht das 6080-fache. Übergroße bewegliche Bühne bietet Platz Großformatige Samples mit nativer 4K-Ausgabe. Herkömmliche metallurgische Mikroskope verfügen über einen kleinen Arbeitstisch mit geringerer Auflösung und begrenzter Vergrößerung.
Dual-Output-Schnittstellen:HDMI + Gigabit-LAN-Anschluss. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope haben Single-Interface ohne Netzwerk-Port zur Systemintegration.
Duale Messmodi:Integrierte Offline-Messung auf dem Monitor plus PC-Software-Messung. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur PC-seitige Softwaremessungen.
Dual-Speichermodi:Offline-U-Disk-Speicher und PC-Software-Speicher, Datenspeicherung verfügbar mit oder ohne angeschlossenem Computer. Herkömmliche Modelle erfordern zum Speichern der Bilder eine PC-Verbindung.
Unterstützte Sekundärentwicklung:LAN-Anschluss ermöglicht automatische Systemintegration. Allgemein Metallurgische Mikroskope unterstützen keine Sekundärentwicklungsfunktion.
Spezieller metallurgischer optischer Pfad:Optimiert für Metallkorn, Beschichtung und metallographische Materialanalyse. Gewöhnlichen digitalen Mikroskopen fehlt dieser spezielle optische Pfad und sie können dies auch nicht visualisieren metallographische Strukturen.
Mechanik:Vollmetallkonstruktion für hohe Steifigkeit und Vibrationsfestigkeit. Präzision Grob-Fein-Fokussierung ohne Spiel. Großer manueller XY-Tisch mit geringem Verschleiß und minimalem Spiel. Trinokular Der optische Pfad behält die optische Ausrichtung beim Objektivwechsel bei.
Optik:Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive mit Antibeschlag-Hartbeschichtung. Auflichtbeleuchtung mit 6V-30W-Halogenlampen.
Bildgebung und Messung:8,3-Megapixel-4K-Industrie-CMOS-Kamera. Dual-Ausgang: HDMI + Gigabit-LAN Port, gute Entstörungsleistung für den Einsatz in Industrieumgebungen. Unterstützt eingebettete On-Monitor-Messungen und PC-Software-Messung. Im Werk vorkalibriert; Parameter bleiben nach dem Ausschalten bestehen; keine tägliche Kalibrierung erforderlich. Dual-Path-Speicherung über U-Disk und PC-Software. Tiefenschärfesynthese und Bildzusammenfügung sind verfügbar nur auf PC-Software. Die sekundäre Entwicklungsschnittstelle ist über den LAN-Port verfügbar.
Betriebsumgebung:Arbeitstemperatur 10–35 °C, relative Luftfeuchtigkeit 30–75 % relative Luftfeuchtigkeit. Stabil unter Normalbedingungen Elektromagnetische Umgebung der Fabrik. Vermeiden Sie starke Vibrationen, korrosive Gase und starken Staub.
Qualität und Wartung:Vollständige Werksinspektion. Bauen Sie die optischen Module nicht auseinander. Regelmäßig Eine staubdichte Reinigung verlängert die Lebensdauer.
Halbleiterwafer und -chips (Kernanwendung):
Siliziumwafer, Lithografiescheiben, IC-Chips, MOS-Röhren, Leiterplatten, flexible FPC-Schaltkreise, verpackte Lötverbindungen.
Inspektionsziele: interne Mikrochip-Schaltkreise, Waferbeschichtungen, Ätzfehler, Verpackungsblasen, Kaltlöten
Verbindungen, Oxidation und Bolzenverformung.
Metallografische Proben und Hardware-Schneidwerkzeuge:
Metallografische Schnitte, legierter Stahl, Bohrer, Fräser, präzisionsgestanzte Metallteile.
Inspektionsziele: Metallkornstruktur, metallografische Analyse der Wärmebehandlung, Mikrooberflächenrisse,
Schneidenausbrüche, Grate, Verschleißspuren und innere Materialverunreinigungen.
Laborproben: Pulver, Fasern und Dünnschicht:
Metallpulver, chemisches Pulver, Kohlenstofffasern, Textilfasern, optische Beschichtungsfilme.
Beobachten Sie Partikelmorphologie, Fasertextur, Filmdelaminierung und Mikrobeschichtungsstrukturen.
Optoelektronische & Präzisions-Kunststoffkomponenten:
LED-Chips, optische Linsen, Spritzgussteile, Kleber für Halbleiterverpackungen.
Erkennen Sie Mikroporen, Oberflächenflecken, raue Kanten, Delaminierung, Blasen und kleine Schönheitsfehler.
Großformatige Präzisions-Miniaturkomponenten:
Steckverbinder, Klemmen, Mikrofedern, großformatige Werkstücke, großformatige Teile.
Extragroßer beweglicher Tisch für übergroße Proben; 4K-Pixel-genaue Messung von Lücken und Löchern
Durchmesser, Höhenunterschiede und Längenmaße.
Akademische Labore und Qualitätskontrolle in der Halbleiterfabrik:
Materialforschungsexperimente, Wareneingangs- und Fertigwarenvollprüfung für Halbleiter,
metallografische Probenbeobachtung; Foto-/Videoarchivierung, Verbindung zum PC zum Exportieren professioneller Messungen
QC-Berichte.
Die erweiterte große Plattform ermöglicht die vollständige Beobachtung von Wafern, großen Leiterplatten und großen Metallscheiben ohne Probenschneiden. Perfekt für die Inspektion von Halbleiterwafern, Leiterplatten und großen Hardwarekomponenten.
Stufenverstellbare Vergrößerung: optisch 50x-800x; Maximale digitale Vergrößerung bis zu 6080X (rein digitaler Zoom). Aufnahmen Gesamterscheinungsbild des Werkstücks und ultrafeine Details wie Chip-Schaltungen, Metallkörner, Mikrokratzer usw Beschichtungsporen. Ideal für Halbleiter-F&E-Tests.
Der trinokulare synchrone Strahlengang ermöglicht die gleichzeitige Beobachtung über binokulare Okulare und HDMI-Monitor. Geeignet für Diskussionen im F&E-Team, doppelte QC-Nachprüfung und universitäre Laborlehre, um Fehleinschätzungen zu reduzieren.
Single-HDMI-Ausgang mit integrierter On-Monitor-Messfunktion. 4K-Fotos und Videos können direkt darauf gespeichert werden kompatible U-Disk. Plug-and-Play-Installation für Basis-Inspektionsstationen in Halbleiterwerkstätten und Kleinmateriallabore.
Dicker integrierter Antivibrationskörper zusammen mit manueller Grob-Fein-Fokussierung. Reibungslose Fokussierungsleistung ohne Bildverschiebung während der stundenlangen kontinuierlichen Inspektion. Langlebig für den täglichen Masseneingangstest für Wafer und Leiterplatten und Langzeitanalyse von statischen Proben im Labor.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Artikel | Beschreibung |
| Produkt | GP-L500-324K Metallografisches Mikroskop für Forschungszwecke mit 4K Ultra HD |
| Kategorie | Trinokulare metallurgische 4K-Großplattform-4K-Inspektion und -Messung auf industrieller Forschungsniveau Mikroskop |
| Kerntechnologien | Trinokulares optisches System mit synchroner Betrachtung, großflächig beweglicher Probentisch, hohe Leistung metallurgisch Objektivsatz, 4K-Ultra-HD-CMOS-Bildsensor, Dual-Messsystem (im Monitor integriert). Messung + PC-Software-Messung), HDMI+Gigabit-LAN Zweikanal-Signalübertragung, Dual-Storage-Technologie, Offene Architektur, die das Andocken von Sekundärentwicklungen unterstützt |
| Wichtige Spezifikationen | Visuelle Vergrößerung: 50/100/200/500/800×; Elektronische Vergrößerung: 380/760/1520/3800/6080× (6080X ist rein digitaler Zoom); Schnittstellen mit zwei Ausgängen: HDMI + Gigabit-LAN-Anschluss; 4K-Aufnahmeauflösung: 3840×2160; Manueller Fokus nur; Zwei Messmodi: integrierte präzise Messung + dedizierte PC-Software-Messung; Dual-Speicher Modi: lokaler U-Disk-Speicher + PC-Software-Speicher; Das Monitorterminal unterstützt Dimensionsmessung, HD Bild Vorschau, Foto- und Dateiarchivierung; PC-Terminal unterstützt Dimensionsmessung und Bildspeicherung; Ganze Einheit unterstützt die sekundäre Entwicklungsintegration über LAN. |
| Typische Anwendungen | Inspektion der Mikrostruktur von Halbleiterwafern und -chips, Beobachtung großer elektronischer Komponenten, Metall metallografische Kornstrukturanalyse, Erkennung von Verpackungsschaltungen, PCB-Querschnittsprüfung, Qualitätsprüfung von neuen Energiematerialien, universitäre Forschung im Labor für fortgeschrittene Materialien |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Standort des Herstellers | Kunshan, Jiangsu, China (angrenzend an Shanghai) |
| Modell | GP-L500-324K |
| Auflösung | 3840×2160 |
| Wirklich effektive Pixel | 8,3 Megapixel |
| Fokussierungsmethode | Nur manueller Fokus |
| Optisches Format | 1/1,7" |
| Pixelgröße | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Ausgabemethode | HDMI + Gigabit-LAN-Ethernet-Anschluss |
| Detaillierte Funktionseinführungen für jede Ausgabeschnittstelle | ① HDMI verbindet sich mit 4K-kompatiblen Displays. Integrierte professionelle Bildverarbeitungs-Firmware unterstützt
Fotoaufnahme, Videoaufnahme, Maßvermessung, Bildwiedergabe und Bildvergleich, bedient
von
Maus in Echtzeit. ② Der Gigabit-LAN-Port verbindet sich mit Routern, Switches oder Computern für ein Netzwerkbild Übertragung. Computer innerhalb desselben Netzwerksegments können Echtzeitvideos empfangen und die Aufnahme auslösen über passende Software. |
| Bildrate | HDMI: 60fps bei 3840×2160 Gigabit-LAN: 20 fps bei 1920 x 1080 |
| Tiefenschärfesynthese | / |
| Bildzusammenfügung | / |
| Messmethode | Integriertes On-Monitor-Messsystem + PC-Software-Messung |
| Messgenauigkeit | 0,001 mm |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4 umschaltbare Einheiten) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Bogenmaß, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung hinzufügen, automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste und mehr |
| Speichermethode | U-Disk-Speicher + PC-Software-Speicher |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz Hauptsteuerungsprozessor |
| Betriebssystem | Unabhängig entwickelte Mess-Firmware basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Bildbenennung | Automatische oder manuelle Benennung verfügbar |
| Betrachtungskopf | 30° geneigter Trinokularkopf mit Scharnier; Verstellbereich zwischen den Pupillen: 53 mm–75 mm |
| Beobachtungsmodi | Hellfeld / Schrägbeleuchtung / einfache Polarisation |
| Beleuchtungssystem | Beleuchtungssystem mit nur reflektiertem Falllicht, 100–240 V Weitspannungseingang, verstellbarer Glühfaden Zentrum, stufenlos einstellbare Lichtintensität. |
| Stand | ① Aufnahmegestell, koaxialer Grob-Fein-Fokussiermechanismus in niedriger Handposition, mit Verriegelung und
einschränkend
Geräte; Feinstteilungswert: 0,7 μm. Auflichtbeleuchtung mit Halogenlampen. ② Hellfeld Reflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Farbfilter-Umschalteinheit. ③ Gelb, Blau, grün Für den optischen Strahlengang des reflektierten Lichts werden Filter und Milchglasscheiben mitgeliefert. |
| Mechanische Bühne | ★Mechanischer beweglicher Tisch. Bühnenabmessung: 280 mm × 270 mm; X-Y-Verfahrweg: 204 mm × 204 mm (8-Zoll-Verfahrweg). Glas Probenträgerplatte zur reinen Auflichtbeobachtung, geeignet für großformatige Werkstücke. |
| Lichtquelle | 6V 30W Halogenlampenkammer (nur Auflicht) |
| Einfache Polarisationsfunktion | Push-Pull-Polarisator und Analysator installiert |
| Elektronische Schnittstelle | CTV 1X-Kameraschnittstelle mit festem Fokus; CTV 0,5X ist optional mit Preisdifferenzausgleich. |
| Okulare | Zwei WF10X/22 mm Weitwinkel-Planfeldokulare mit individueller Dioptrieneinstellung |
| Nasenstück | ★Mingchang Fünf-Loch-Objektivrevolver |
| Metallurgische Ziele | ★Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive ① PL L5X/0,12, Arbeitsabstand: 26,1 mm ×1Stk ② PL L10X/0,25, Arbeitsabstand: 20,2 mm ×1 Stk ③ PL L20X/0,40, Arbeitsabstand: 8,80 mm ×1Stk ④ PL L50X/0,70, Arbeitsabstand: 3,68 mm ×1 Stk ⑤ PL L80X/0,80, Arbeitsabstand: 1,25 mm ×1Stk |
| Optische Vergrößerung | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (fünfstufig umschaltbar) |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (fünfstufig umschaltbar); optionaler Bereich: 190-3040X. |
GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
Tsinghua-Universität – Lehre, Laborbildgebung und experimentelle Datenarchivierung
Fudan-Universität – Mikro-Nano-Materialien und biomedizinische mikroskopische Beobachtungsforschung
Dabo Medical – Mikromorphologie-Analyse für implantatähnliche Medizinprodukte und Biomaterialien
Tianjin University of Commerce – Material-Labor-Lehre, Mikrobildgebung und experimentelle Datenarchivierung
Xi'an Jiaotong University – Fortgeschrittene Materialwissenschaften und experimentelle Beobachtung der Präzisionsoptik
GREE Electric Appliances (Hefei) – Präzise Dimensionsmessung und Fehlerprüfung für Haushaltsgeräteteile
A1: Ausgestattet mit HDMI + Gigabit-LAN-Anschluss. Es unterstützt die direkte Anzeige auf dem Monitor und die Netzwerkverbindung mit dem Computer.
A2: Es unterstützt 4K-Ultra-HD-Foto- und Videoaufnahmen. Dateien können auf einer FAT32-formatierten U-Disk mit einer Kapazität von 32 GB gespeichert werden Kapazität. Unterstützt sowohl Bildschirm- als auch PC-Softwaremessungen mit Funktionen zum Speichern von Daten und zum Exportieren von Berichten.
A3: Fehlerbehebung bei fehlendem Bild: Überprüfen Sie die Stromversorgung, das HDMI-Kabel und die Signalquelle des Monitors und starten Sie dann das Gerät neu. Fehlerbehebung bei verschwommenen Bildern: Stellen Sie das Handrad für den manuellen Fokus ein, legen Sie die Probe flach hin und reinigen Sie die Linsenoberfläche. Netzwerkfehler Fehlerbehebung: Stellen Sie PC und Gerät auf dasselbe IP-Segment, schalten Sie die Firewall aus und schließen Sie das Netzwerkkabel wieder an. U-Disk-Fehler Fehlerbehebung: U-Disk ersetzen oder neu formatieren (muss FAT32 und ≤32 GB sein).
A4: Sekundärentwicklung wird über LAN-Port unterstützt. Weit verbreitet für die metallografische Analyse von Metallmaterialien testen, Pulvermetallurgie, Halbleiterinspektion, Präzisionskomponenteninspektion, wissenschaftliche Forschung und Lehrversuche.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde 2011 offiziell gegründet. Unser Gründungs-Führungsteam hat sich zusammengestellt Erfahrung in der Branche der optischen Inspektionsausrüstung seit 2005. Wir liefern End-to-End-Lösungen optisches Systemdesign, unabhängige Forschung und Entwicklung, weltweiter Produktvertrieb und langfristige After-Sales-Wartung. Dienstleistungen. Unser engagiertes Kern-Engineering-Team verfügt über mehr als zehn Jahre praktische Entwicklungserfahrung in optische Instrumente, die stabile, bewährte Technologie und zuverlässige Qualität gewährleisten.
GAOPIN verfügt über eine breite Produktpalette bestehend aus über 100 verschiedenen optischen Inspektionsgeräten Industrie- und Laborkunden auf internationalen Märkten. Wir konzentrieren uns stark auf die Entwicklung maßgeschneiderter, Kosteneffiziente Mikroskopielösungen zur Erfüllung einzigartiger Inspektionsanforderungen verschiedener Branchen.
Für Partner im Ausland bieten wir schnelle globale technische Unterstützung, einschließlich Online-Videokonferenzen, Schritt-für-Schritt-Videoanleitung und Live-Remote-Benutzerschulung. Unser Produktionsstandort befindet sich in Kunshan, Jiangsu Provinz, mit bequemer Verkehrsanbindung nach Shanghai. Vor-Ort-Werksbesichtigungen und virtuelle Online-Rundgänge sind möglich begrüßt. Bitte wenden Sie sich an unser Vertriebsteam, um authentische Probentestfotos zu erhalten, die mit dieser Metallografie in Forschungsqualität aufgenommen wurden Mikroskop mit 4K Ultra HD zur Bewertung der realen Bildleistung.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
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