Metallografisches Mikroskop in Forschungsqualität mit 4K Ultra HD und Autofokus. Großes 4K-Metallurgiemikroskop. Einführung eines 4K-Autofokus-Metallurgiemikroskops in Forschungsqualität 5-stufige Vergrößerungseinstellung mit einer Vergrößerung von 380× bis 6080×. Die extragroße bewegliche Bühne kann halten großformatige Proben. Ultraklare 4K-Bilder liefern scharfe und feine Mikrostrukturdetails. Der Trinokularanschluss kann sein verbunden mit Kameras und metallografischer Analysesoftware, gut geeignet für die Beobachtung großer Metalle, Halbleiter Inspektion, PCB-Scheibenanalyse, wissenschaftliche Forschung und Qualitätskontrolle.
Dieses Instrument eignet sich zur mikroskopischen Beobachtung metallografischer Mikrostrukturen und Oberflächenmorphologie. Es dient als ideales Forschungsinstrument für die Disziplinen Metallurgie, Mineralogie und Feinmechanik.
Im Trinokulargehäuse integrierte 4K-Kamera zur gleichzeitigen Betrachtung über Okulare und externen Monitor. Multiport Ausgabe über HDMI, USB3.0 und WIFI übertragen Ultra-HD-Mikrobilder in Echtzeit.
Optische Vergrößerung 50-800×; Die maximale rein digitale Vergrößerung erreicht 6080X mit einem Linsensatz mit fünf Objektiven. Präzision Der optische Pfad liefert scharfe Details für die Chip- und Wafer-Mikroinspektion.
Das integrierte Hardware-Autofokusmodul ermöglicht eine gleichmäßige, vibrationsfreie Fokussierung und steigert die Effizienz bei Massenproben Testen; Der manuelle Fokusmodus ist ebenfalls verfügbar.
Extragroßer beweglicher Probentisch gepaart mit dicker integrierter Metallbasis. Bleibt auch bei großen Proben stabil ohne Wackeln bei Langzeitbeobachtung.
Minimalistischer, integrierter starrer Metallrahmen im Laborstil, perfekt geeignet für Halbleiterwerkstätten und Universitäten Labore und QC-Einrichtungen.
Ideal für die Chip- und Wafer-Inspektion; Wird auch häufig für Halbleitertests, metallografische Analysen usw. eingesetzt. Materialforschung und Qualitätsbewertungsarbeiten.
Unterstützt 4K-Foto- und Videoaufzeichnung sowie zwei Messmodi (im Bildschirm integriert + PC-Software). Dual-Storage über U-Disk & Computer. Die Tiefenschärfesynthese funktioniert sowohl auf dem Monitor als auch in der PC-Software; Die Funktion zum Zusammenfügen von Bildern ist nur verfügbar in PC-Software. Die Sekundärentwicklung wird für die Archivierung, den Vergleich und die erweiterte Analyse von Bildern unterstützt.
Probenstadium:GP-L500-462H verfügt über einen großen beweglichen Tisch für großformatige Chips/Wafer großer Reisebereich. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope sind nur für kleine Proben mit einem kleinen Tisch ausgestattet erfordern eine häufige Neupositionierung der Probe.
Vergrößerungsbereich:380–6080-fache Fünfgang-Hochvergrößerung, die scharfe Details für kleine Bilder liefert Chip-Schaltungsinspektion. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope haben weniger Vergrößerungsräder und ein niedrigeres Maximum Vergrößerung, was bei hoher Leistung zu unscharfen Bildern führt.
Bildgebung und Messung:Native 4K-Kamera in Forschungsqualität, integrierte On-Monitor-Messung, Foto-Video-Speicherfunktion. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope verwenden eine 2K-Kamera mit niedriger Auflösung ohne integriertes Gerät Für die Analysearbeiten ist eine PC-Software zwingend erforderlich.
Anwendungsbereich:Optimiert für Wafer, Halbleiter und hochpräzise elektronische Teile Inspektion. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope eignen sich nur für kleine Metallscheiben und bieten für große Metallscheiben eine schlechte Leistung Chip-Proben.
Mechanik:Vollmetallkonstruktion für hohe Steifigkeit und Vibrationsfestigkeit. Hardware-Autofokus Modul ausgestattet. Präzise Grob-Fein-Fokussierung ohne Spiel. Großer manueller XY-Tisch mit geringem Verschleiß und minimaler Spielraum. Der trinokulare Strahlengang behält die optische Ausrichtung beim Objektivwechsel bei.
Optik:Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive mit Antibeschlag-Hartbeschichtung. Auflichtbeleuchtung mit 6V-30W-Halogenlampen.
Bildgebung und Messung:8,3-Megapixel-4K-CMOS-Kamera in Industriequalität. Schnittstellen mit mehreren Ausgängen: HDMI + USB3.0 + WIFI mit hervorragender Entstörungsleistung für Anwendungen in industriellen Umgebungen. Unterstützt sowohl eingebettete Bildschirmmessungen als auch PC-Software-basierte Messungen. Dual-Path-Speicher: USB-Flash-Laufwerk und PC-Software. Die Tiefenschärfe-Stacking-Funktion ist auf dem Bildschirm und über die PC-Software verfügbar; das Bild-Stitching Funktion wird nur von PC-Software unterstützt. Auf die Sekundärentwicklungsschnittstelle kann über USB3.0 / WLAN zugegriffen werden.
Betriebsumgebung:Arbeitstemperatur 10–35 °C, relative Luftfeuchtigkeit 30–75 % relative Luftfeuchtigkeit. Stabil unter Normalbedingungen Elektromagnetische Umgebung der Fabrik. Vermeiden Sie starke Vibrationen, korrosive Gase und starken Staub. Halten Sie das WLAN-Modul fern starke Signalstörquellen.
Qualität und Wartung:Vollständige Werksinspektion. Demontieren Sie keine optischen Module oder Autofokus-Modul. Regelmäßige staubdichte Reinigung verlängert die Lebensdauer.
Halbleiterwafer und -chips (Kernanwendung):
Siliziumwafer, Lithografiescheiben, IC-Chips, MOS-Röhren, Leiterplatten, flexible FPC-Schaltkreise, verpackte Lötverbindungen.
Inspektionsziele: interne Mikrochip-Schaltkreise, Waferbeschichtungen, Ätzfehler, Verpackungsblasen, Kaltlöten
Verbindungen, Oxidation und Bolzenverformung.
Metallografische Proben und Metallschneidekomponenten:
Metallografische Schnitte, legierter Stahl, präzisionsgestanzte Metallteile.
Inspektionsziele: Metallkornstruktur, metallografische Analyse der Wärmebehandlung, Mikrooberflächenrisse,
Schneidenausbrüche, Grate, Verschleißspuren und innere Materialverunreinigungen.
Laborproben: Pulver, Fasern und Dünnschicht:
Metallpulver, chemisches Pulver, Kohlenstofffasern, Textilfasern, optische Beschichtungsfilme.
Beobachten Sie Partikelmorphologie, Fasertextur, Filmdelaminierung und Mikrobeschichtungsstrukturen.
Optoelektronische und Präzisionskunststoffkomponenten:
LED-Chips, optische Linsen, Spritzgussteile, Kleber für Halbleiterverpackungen.
Erkennen Sie Mikroporen, Oberflächenflecken, raue Kanten, Delaminierung, Blasen und kleine Schönheitsfehler.
Großformatige Präzisions-Miniaturkomponenten:
Steckverbinder, Klemmen, Mikrofedern, großformatige Werkstücke, großformatige Teile.
Extragroßer beweglicher Tisch für übergroße Proben; 4K-Pixel-genaue Messung von Lücken und Löchern
Durchmesser, Höhenunterschiede und Längenmaße.
Akademische Labore und Qualitätskontrolle der Halbleiterfabrik:
Materialforschungsexperimente, Wareneingangs- und Fertigwarenvollprüfung für Halbleiter,
metallografische Probenbeobachtung; Foto-/Videoarchivierung, Verbindung zum PC zum Export professioneller Messqualitätskontrolle
Berichte.
Dieses Gerät bietet native 3840*2160 4K-Bildgebung. Es eignet sich zur präzisen Inspektion von Halbleitern, Leiterplatten usw Materialschnitte sowie Testbericht-Export, wodurch winzige Texturen und Mikrodefekte deutlich sichtbar werden.
Ausgestattet mit Hardware-Autofokus. Geeignet für Massenproduktionskontrollen und häufigen Probenaustausch. Wird schnell erreicht Fokussierung nach Probenbewegung ohne wiederholte manuelle Anpassung.
Der große bewegliche Tisch und der vertikale trinokulare metallurgische Strahlengang sind für große Wafer in Originalgröße konzipiert Leiterplatten und Metallproben, wodurch Reflexionsblendungen effektiv unterdrückt werden.
Dualer Vergrößerungsbereich: 50-800-fache optische Vergrößerung, 380-6080-fache digitale Vergrößerung. Deckt beides ab Gesamtexemplar Beobachtung und Mikrokorn-/Mikrofehlerprüfung.
Unterstützt integrierte On-Device-Messungen und PC-Software-Messungen. Ausgestattet mit HDMI-, USB3.0- und WIFI-Ausgang Häfen. Fotos, Videos und Messdaten können per U-Disk oder Computer gespeichert werden. Sekundärentwicklung unterstützt für Integration in die Produktionslinie und Rückverfolgbarkeit von Labordaten.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Artikel | Beschreibung |
| Produkt | GP-L500-462H Metallografisches Mikroskop für Forschungszwecke mit 4K Ultra HD und Autofokus |
| Kategorie | Metallurgische Inspektion und Messung mit 4K-Autofokus auf industrieller Forschungsniveau-Großplattform Mikroskop |
| Kerntechnologien | Trinokulares optisches System mit synchroner Betrachtung, großflächig beweglicher Probentisch, hohe Leistung metallurgisch Objektivsatz, 4K-Ultra-HD-CMOS-Bildsensor, Hardware-Autofokusmodul, Dreikanal Übertragung (HDMI+USB3.0+WIFI), Dual-Messsystem, Tiefenschärfesynthese und Bildstichalgorithmus, Offene Architektur, die die sekundäre Entwicklung unterstützt |
| Wichtige Spezifikationen | Visuelle Vergrößerung: 50/100/200/500/800×; Elektronische Vergrößerung: 380/760/1520/3800/6080× (6080X ist rein digitaler Zoom); Dreifache Ausgangsanschlüsse: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-Aufnahmeauflösung: 3840×2160; Hardware Autofokus ausgestattet; Duale Messmodi: integrierte präzise Messung + spezielle PC-Software Messung; Dual-Speichermodi: lokaler U-Disk-Speicher + PC-Software-Speicher; Monitor-Terminal unterstützt dimensional Messung, HD-Bildvorschau, Foto-Videoaufzeichnung, Tiefenschärfesynthese; PC-Terminal unterstützt Dimensionsmessung, Dateispeicherung, Tiefenschärfesynthese und Bildzusammenfügung; Stützen für die gesamte Einheit Sekundärentwicklungsintegration. |
| Typische Anwendungen | Inspektion der Mikrostruktur von Halbleiterwafern und -chips, Beobachtung großer elektronischer Komponenten, Metall metallografische Kornstrukturanalyse, Erkennung von Verpackungsschaltungen, PCB-Querschnittsprüfung, Präzisions-Elektronikkomponenten-Fehleranalyse, Qualitätsprüfung von neuen Energiematerialien, universitäre Forschung im Labor für fortgeschrittene Materialien |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Standort des Herstellers | Kunshan, Jiangsu, China (angrenzend an Shanghai) |
| Modell | GP-L500-462H |
| Auflösung | 3840×2160 |
| Wirklich effektive Pixel | 8,3 Megapixel |
| Fokussierungsmethode | Autofokus |
| Optisches Format | 1/1,8" |
| Pixelgröße | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Ausgabemethode | HDMI + USB3.0 + WLAN |
| Detaillierte Funktionseinführungen für jede Ausgabeschnittstelle | ① HDMI verbindet sich mit 4K-kompatiblen Displays. Integrierte professionelle Bildverarbeitungs-Firmware unterstützt
Hardwaregesteuerter Autofokus, Fotoaufnahme, Videoaufnahme, Dimensionsmessung, Bildwiedergabe
und
Bildvergleich, bedienbar per Maus in Echtzeit. ② USB 3.0 wird mit dem Computer verbunden, im Lieferumfang enthalten hochwertige professionelle Bildverarbeitungssoftware für Fotoaufnahme, Dimensionsmessung, Tiefenschärfefusion und Bildzusammenfügung. ③ WIFI-Modul verbindet sich mit Laptops oder Mobilgeräten; Echtzeit Bildübertragung, Fotografie und Speicherung über passende Software. |
| Bildrate | HDMI: 60fps bei 3840×2160 USB3.0: 30fps bei 3840×2160; 60fps bei 1920×1080 WLAN: 30fps bei 3840×2160; 60fps @1920×1080 |
| Tiefenschärfesynthese | Unterstützt sowohl von HDMI-On-Monitor-Firmware als auch von PC-Software |
| Bildzusammenfügung | Wird nur auf der PC-Softwareseite unterstützt |
| Messmethode | Integriertes On-Monitor-Messsystem + PC-Software-Messung |
| Messgenauigkeit | 0,002–0,005 mm |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4 umschaltbare Einheiten) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Bogenmaß, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung hinzufügen, automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste und mehr |
| Speichermethode | U-Disk-Speicher + PC-Software-Speicher |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz Hauptsteuerungsprozessor |
| Betriebssystem | Unabhängig entwickelte Mess-Firmware basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Bildbenennung | Automatische oder manuelle Benennung verfügbar |
| Betrachtungskopf | 30° geneigter Trinokularkopf mit Scharnier; Verstellbereich zwischen den Pupillen: 53 mm–75 mm |
| Beobachtungsmodi | Hellfeld / Schrägbeleuchtung / einfache Polarisation |
| Beleuchtungssystem | Beleuchtungssystem mit nur reflektiertem Falllicht, 100–240 V Weitspannungseingang, verstellbarer Glühfaden Zentrum, stufenlos einstellbare Lichtintensität. |
| Stand | ① Aufnahmegestell, koaxialer Grob-Fein-Fokussiermechanismus in niedriger Handposition, mit Verriegelung und
einschränkend
Geräte; Feinstteilungswert: 0,7 μm. Auflichtbeleuchtung mit Halogenlampen. ② Hellfeld Reflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Farbfilter-Umschalteinheit. ③ Gelb, Blau, grün Für den optischen Strahlengang des reflektierten Lichts werden Filter und Milchglasscheiben mitgeliefert. |
| Mechanische Bühne | ★Mechanischer beweglicher Tisch. Bühnenabmessung: 280 mm × 270 mm; X-Y-Verfahrweg: 204 mm × 204 mm (8-Zoll-Verfahrweg). Glas Probenträgerplatte zur reinen Auflichtbeobachtung, geeignet für großformatige Werkstücke. |
| Lichtquelle | 6V 30W Halogenlampenkammer (nur Auflicht) |
| Einfache Polarisation | Pull-Push-Polarisator und Polarisator |
| Elektronische Schnittstelle | CTV 1X-Kameraschnittstelle mit festem Fokus; CTV 0,5X ist optional mit Preisdifferenzausgleich. |
| Okulare | Zwei WF10X/22 mm Weitwinkel-Planfeldokulare mit individueller Dioptrieneinstellung |
| Nasenstück | ★Mingchang Fünf-Loch-Objektivrevolver |
| Metallurgische Ziele | ★Unendlich korrigierte planachromatische metallurgische Objektive ① PL L5X/0,12, Arbeitsabstand: 26,1 mm ×1Stk ② PL L10X/0,25, Arbeitsabstand: 20,2 mm ×1 Stk ③ PL L20X/0,40, Arbeitsabstand: 8,80 mm ×1Stk ④ PL L50X/0,70, Arbeitsabstand: 3,68 mm ×1 Stk ⑤ PL L80X/0,80, Arbeitsabstand: 1,25 mm ×1Stk |
| Optische Vergrößerung | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (fünfstufig umschaltbar) |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (fünfstufig umschaltbar); optionaler Bereich: 190-3040X. |
GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalyse anorganischer Keramik und neuer Energiematerialien
Forschungsinstitut für Physikalische und Chemische Technik der Kernindustrie – Beobachtung der Mikromorphologie & Präzisions-Komponentenanalyse für Sonderwerkstoffe
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Fortgeschrittene optische Forschung und optische Komponenten Charakterisierung
Tsinghua-Universität – Lehre, Laborbildgebung und experimentelle Datenarchivierung
Beijing Institute of Technology – Wissenschaftliche Forschungsanalyse für militärische Materialien und optoelektronische Geräte
DOOV – Prüfung der Montage mobiler Geräte, Prüfung des Bildschirms und des Erscheinungsbilds von Komponenten
A1: Ausgestattet mit HDMI-, USB3.0- und WIFI-Schnittstellen. Es unterstützt die direkte Monitoranzeige und kabelgebundene/kabellose PCs Verbindung.
A2: Es unterstützt 4K-Ultra-HD-Foto- und Videoaufnahmen. Dateien können auf einer FAT32-formatierten U-Disk mit einer Kapazität von 32 GB gespeichert werden Kapazität oder Computerspeicher. Unterstützt Präzisionsmessungen sowohl auf dem Bildschirm als auch per PC-Software, mit Datenspeicherung und Report-Export-Funktionen.
A3: Es unterstützt Hardware-Autofokus, Tiefenschärfesynthese, PC-seitige Bildzusammenfügung und Sekundärentwicklung. Weit verbreitet für metallografische Analysen, Halbleiterprüfungen, Präzisionskomponentenprüfungen, Wissenschaftliche Forschung, Lehre und hochwertige industrielle Präzisionserkennung.
A4: Fehlerbehebung bei fehlendem Bild: Überprüfen Sie die Stromversorgung, das HDMI-Kabel und die Signalquelle des Monitors und starten Sie dann das Gerät neu. Fehlerbehebung bei verschwommenen Bildern: Stellen Sie das Handrad für den manuellen Fokus ein, legen Sie die Probe flach hin und reinigen Sie die Linsenoberfläche. Netzwerkfehler Fehlerbehebung: Stellen Sie PC und Gerät auf dasselbe IP-Segment, schalten Sie die Firewall aus und schließen Sie das Netzwerkkabel wieder an. U-Disk-Fehler Fehlerbehebung: U-Disk ersetzen oder neu formatieren (muss FAT32 und ≤32 GB sein).
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde 2011 offiziell gegründet. Unsere Gründungsmitglieder kamen zusammen Seit 2005 verfügen wir über praktisches Know-how im Bereich optischer Instrumente. Wir bieten umfassenden Support für kundenspezifisches optisches Design, Interne Forschung und Entwicklung, internationaler Vertrieb und umfassende After-Sales-Wartungsdienste. Unser Kompetentes Ingenieurteam verfügt über mehr als zehn Jahre Erfahrung in der Mikroskopie-Entwicklung und gewährleistet so eine stabile technische Leistung gleichbleibende Produktzuverlässigkeit.
GAOPIN liefert mehr als 100 Kategorien optischer Prüfgeräte für Industrie- und Laborkunden rund um den Globus. Wir konzentrieren uns auf die Bereitstellung flexibler, kostengünstiger, maßgeschneiderter Mikroskopie-Inspektionslösungen für befriedigen diverse-testanforderungen.
Für Käufer im Ausland bieten wir reaktionsschnellen weltweiten technischen Support, einschließlich Remote-Online-Beratung, Praktische Video-Tutorials und Live-Remote-Equipment-Bedienungstraining. Unsere Produktionsstätte befindet sich in Kunshan, Provinz Jiangsu, mit bequemer Verkehrsanbindung nach Shanghai. Werksbesichtigungen vor Ort und virtuelle Online-Touren sind möglich begrüßt. Bitte kontaktieren Sie unser Vertriebsteam für authentische Testfotos, die mit dieser Forschungssorte aufgenommen wurden Metallographisches Mikroskop mit 4K Ultra HD und Autofokus zur Bewertung der realen Abbildungsleistung.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
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