Dieses metallurgische Mikroskop mit hoher Vergrößerung und Autofokus wurde für die detaillierte Überprüfung von Materialproben entwickelt und ist ein leistungsfähiges metallografisches Mikroskop mit hoher Vergrößerung Autofokus. Es ermöglicht eine Dual-View-Beobachtung durch binokulare Okulare und ein externes Display. USB-Port-kompatibel Der WLAN-Adapter unterstützt die drahtlose Datenübertragung. Ausgestattet mit Hellfeld- und Dunkelfeldmodi und sogar Durch die koaxiale Beleuchtung werden Mikrodefekte wie Körner, Beschichtungen und Risse scharf sichtbar. Es integriert das Bild Snapshot- und Messanalysefunktionen. Das vibrationsarme, stabile Gehäuse sorgt für eine gleichbleibende Bildleistung. während das aufrüstbare modulare Layout die Kosten für spätere Aktualisierungen senkt.
4K-Kamera integriert in trinokulares metallurgisches Stativ, ermöglicht gleichzeitige Okular- und Bildschirmbetrachtung. Mehrfachausgang Anschlüsse wie HDMI, USB3.0 und WLAN für die Echtzeit-Ultra-HD-Mikrobilderfassung.
Optische Vergrößerung 50-500 ×, maximale digitale Vergrößerung 2000 ×. Präziser Strahlengang mit professionellem metallurgische Objektive liefern eine scharfe Abbildung von Mikrometalltexturen und Kornstrukturen.
Das eingebaute Autofokus-Modul ermöglicht eine schnelle, gleichmäßige Fokussierung ohne manuelle Bedienung, reduziert Bildverwacklungen erheblich steigert Inspektionseffizienz für unebene metallografische Proben.
Die aus einem Stück gefertigte Basis aus Aluminiumguss sorgt dafür, dass das Gerät gut ausbalanciert ist und bei der Langzeit-Scheibeninspektion kein Wackeln oder Verrutschen verursacht und Materialbeobachtungsarbeit.
Klassisches weiß-blaues Gehäuse im Forschungsstil mit standardmäßigem trinokularem metallurgischem Layout, sauber und minimalistisch für Labore und Qualitätskontrollwerkstätten.
Geeignet für metallmetallografische Analyse, Halbleiterwafer-Inspektion, Materialfehleranalyse, universitäre Lehr-, Forschungs- und Bauteilqualitätsprüfungsaufgaben.
Unterstützt 4K-Foto- und Videoaufnahmen (3840 × 2160). Integrierte On-Monitor-Messung und PC-Software-basierte Messung verfügbar; Dual-Speicherung über USB-Flash-Laufwerk und Computer. Unterstützt Tiefenschärfe-Stacking, Bildzusammenfügung und Sekundärentwicklung zur bequemen Bildarchivierung, zum Vergleich und zur detaillierten Datenanalyse.
Binokulare Beobachtung und synchrone elektronische Beobachtung:Synchronisierte Anzeige zwischen Okular und überwachen. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur die Betrachtung mit dem Okular; Es ist zusätzliches Kamerazubehör erforderlich für die Bildschirmausgabe.
4K-Ultra-High-Definition-Bildgebung + Autofokus:Native 4K-Auflösung plus Hardware-Autofokus für Proben mit unebener Oberfläche. Gängige metallurgische Geräte basieren ausschließlich auf manueller Fokussierung mit geringerer Bildauflösung.
Schnittstellen mit drei Ausgängen:HDMI + USB3.0 + WiFi-Funkübertragung. Traditionelle metallurgische Geräte verbinden sich normalerweise nur mit dem PC ohne drahtlose Übertragungsfunktion.
Duale Messmodi:Integrierte Offline-Messung auf dem Monitor plus PC-Software-basierte Messung. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur PC-seitige Messungen ohne in die Hardware eingebettete Messfunktion.
Dual-Speichermodi:Offline-Speicherung von USB-Flash-Laufwerken und PC-Softwarespeicherung; Datenspeicherung möglich mit oder ohne Computer. Herkömmliche Modelle erfordern einen PC zur Bildspeicherung.
Erweiterter Bildverarbeitungsalgorithmus:Integriertes Tiefenschärfe-Stacking und Bild-Stitching für metallografische Proben mit ungleichmäßiger Höhe. In allgemeinen metallurgischen Mikroskopen fehlen solche eingebetteten Algorithmusfunktionen.
Unterstützte Sekundärentwicklung:Netzwerkfähiges System ermöglicht Automatisierung der Produktionslinie Integration. Allgemeine metallurgische Mikroskope unterstützen keine Sekundärentwicklungsintegration.
Spezieller metallurgischer optischer Pfad:Optimiert für Metallkorn, Beschichtung und Material-Metallographische-Analyse. Herkömmliche Digitalmikroskope haben keinen speziellen Strahlengang und können daher nicht einwandfrei beobachten Metallurgische Mikrostrukturen.
Integriert in einen nativen 3840 × 2160 4K-Bildsensor und mit Standard kalibriert metallurgische-auflösungsvorlagen, Das Gerät erreicht eine gleichmäßige Schärfe im gesamten Bildfeld. Es ermöglicht eine eindeutige Identifizierung mikroskopischer Merkmale einschließlich metallische Korngrenzen, Ablösung der Beschichtung, Mikrorisse an der Oberfläche und metallurgische Gewebe ohne Material periphere Defokussierung.
Einsatz hochwertiger achromatischer metallurgischer Objektive für leistungsstarke mikroskopische Beobachtungen und Analysen. Die Der verbesserte trinokulare optische Tubus ermöglicht eine synchrone optische Betrachtung und digitale Bildgebung und ist vollständig anwendbar auf metallische Mikrostrukturforschung, Schichtdickenprüfung, Kornqualitätsklassifizierung und Szenarien zur industriellen Qualitätskontrolle.
Das spezielle metallurgische Messsystem bietet Echtzeit-Parameterüberlagerung auf dem Bildschirm und Mehrdimensionale Datenanalyse. Es misst präzise kritische metallurgische Parameter wie Filmdicke, Korndimension, Bruchbreite und Schichtungslücke und unterstützt sofortige Anmerkung, Probenbildspeicherung und Inspektionsdaten-Export. Kompatibel mit Tiefenschärfe-Stacking- und Bild-Stitching-Funktionen.
Die Zweiweg-Durchlicht- und Auflichtbeleuchtung garantiert eine qualifizierte Beleuchtung für unterschiedliche Probentypen. Die Der präzise mechanische XY-Achsentisch sorgt für eine reibungslose Bewegung und schnelle Zielpositionierung. Das Starre Vollmetall-Chassis Bietet eine hervorragende Antivibrationsleistung und sorgt so für einen stabilen und zuverlässigen Betrieb über einen längeren Zeitraum professionelle-metallurgische-prüfung.
Halbleiter- und elektronische Komponenten:IC-Chips, Siliziumwafer, Fotolithografiescheiben, PCB Platinen, flexible FPC-Platinen, Lötverbindungen, Stifte. Inspektionsziele: Interne Chip-Schaltkreise beobachten, Wafer-Beschichtungen, Kaltlötfehler, Oxidation, Schaltkreiskratzer und Pin-Verformung; analysieren Mikroschichtstrukturen unter max. 2000-facher Vergrößerung.
Metallmaterialien und metallografische Proben:Metallografische Scheiben, Bohrer, Fräser, Beschläge aus gestanztem Metall. Prüfziele: Metallographische Kornstrukturanalyse, Identifizierung von Wärmebehandlungsmaterialien; Kantenausbrüche, Mikrorisse, Grate und Abriebtiefe erkennen.
Optoelektronische LED- und Kunststoffformteile:LED-Chips, optische Kunststoffteile, Spritzguss und Stanzteile Produkte. Inspektionsziele: Inspektion von winzigen Kerben, Oberflächenflecken, rauen Kanten, Mikrofremdpartikeln, Kleber-Delamination und Versiegelung von Mikrodefekten.
Hochpräzise Miniaturbauteile:Steckverbinder, Klemmen, Mikrofedern, winzige gestanzte Werkstücke. Inspektionsziele: Beobachten Sie kleine Lücken und Crimp-Flachheit; Führen Sie eine präzise Längenmessung auf Pixelebene durch, Lochdurchmesser und Teilung.
Archivierung der Qualitätskontrolle im Labor und in der Industrie:Metallographische-Scheibenexperiment-Analyse, Wareneingangs- und Fertigwaren-Stichprobenkontrolle; Foto- & Videoarchivierung für beweisdefekte Unterlagen und Export von QC-Berichten zu formalen Messungen.
Die optische Vergrößerung reicht von 50 × bis 500 ×, die maximale digitale Vergrößerung beträgt bis zu 2000 ×. Der integrierte Autofokus macht das überflüssig wiederholte manuelle Fokussierung für ungleichmäßige Proben. Die native 4K-Auflösung von 3840 × 2160 sorgt für klare Aufnahmen metallografische Texturen, Wafer-Beschichtungen und Mikrochip-Spuren, was die Effizienz der Laborinspektion von Massenproben erheblich steigert.
Dreifache Ausgangsanschlüsse: HDMI, USB3.0 und WLAN. HDMI-Anschluss für Monitor zur Vor-Ort-Betrachtung; USB3.0 ermöglicht Hochgeschwindigkeits-PC- Analyse; WiFi-Wireless-Casting auf Telefone und Tablets zur kabellosen Fernbeobachtung, geeignet für Spot-Sampling und Gruppenunterrichtsdiskussion.
Zwei Messlösungen: integrierte On-Monitor-Messung und PC-Software-basierte Messung. Ausgestattet mit Tiefenschärfestapelung und Bildzusammenfügung, um vollständig fokussierte Bilder von unebenen Proben zu erzeugen und Nahtlose Panoramaansichten großer Proben. Unterstützt die Sekundärentwicklung für die Integration in die Produktionslinie, ideal für Neue Materialforschung und Beschichtungstoleranzanalyse.
Das trinokular-synchrone Design ermöglicht die gleichzeitige Betrachtung über Binokular-Okulare und 4K-Monitor. Lehrer und QC-Inspektoren können dieselbe Mikroprobe gemeinsam beobachten, ideal für die Universitätsausbildung und die Doppelkontrolle Mängel in Fabriken.
Zwei Speicheroptionen: direkte Speicherung auf einem USB-Stick für 4K-Fotos/Videos und PC-Software-Archivierung für Massenbilder-&-Messdaten. Erfasste Datensätze und Dimensionsberichte können exportiert und langfristig gespeichert werden. Erfüllung der Rückverfolgbarkeitsanforderungen der Fabrik-Qualitätskontrolle, von Universitätslaborberichten und der Halbleiter-Eingangskontrolle.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Juristische Person | Beschreibung |
| Produkt | GP-L200-462H 4K-Metallographiemikroskop mit hoher Vergrößerung und Autofokus |
| Kategorie | Industrielle trinokulare metallografische Inspektion und Messung mit hoher Vergrößerung und 4K-Autofokus Mikroskop |
| Kerntechnologien | Trinokulares optisches Synchronbeobachtungssystem, professionelles metallurgisches Objektivset, 4K Ultrahochauflösende CMOS-Bildgebung, Autofokus-Modul, Mehrkanal-Signalübertragung, Dual-Digital- Mess-Engine, Tiefenschärfe-Stacking- und Bild-Stitching-Algorithmus, Unterstützung für offene Systeme Sekundärentwicklung |
| Wichtige Spezifikationen | Visuelle Vergrößerung: 50/100/200/500 ×; Elektronische Vergrößerung: 200/400/800/2000 ×; Dreifachleistung: HDMI + USB3.0 + WLAN; 4K-Aufnahmeauflösung 3840 × 2160; Autofokus-Design; Duale Messmodi: integriert Messung am Gerät + Messung mit professioneller PC-Software *(0,001 mm, kleinere Messtoleranz kann bei höherer Vergrößerung erreicht werden. Ergebnisse unterliegen der Kalibrierung, Vergrößerung und Probe Bedingungen)*; Dual-Speicher: lokaler USB-Flash-Laufwerkspeicher + Computerdateispeicher; Monitor-Terminal unterstützt Bildvorschau, Dimensionsmessung, Foto- und Videoaufnahme; PC-Terminal-Unterstützung Messung und Bildarchivierung, kompatibel mit Sekundärentwicklungsintegration |
| Typische Anwendungen | Metallmetallographische Strukturanalyse, Legierungskorn- und Materialtexturbeobachtung, Schichtdickenmessung, Halbleiterwafer-Detektion, PCB-Querschnittsprüfung, Präzisions-Hardware-Fehleranalyse, Universitätslabor-Materialforschung, neue-energie-material-qualität- testen |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Standort des Herstellers | Kunshan, Jiangsu, China (in der Nähe von Shanghai) |
| Produktmarke | GAOPIN |
| Produktmodell | GP-L200-462H |
| Auflösung | 3840 × 2160 (4K) |
| Effektive Pixel | 8,3 Megapixel |
| Fokussierungsmethode | Autofokus |
| Optisches Sensorformat | 1/1,8" |
| Pixelgröße | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Ausgabeschnittstellen | HDMI + USB3.0 + WLAN |
| Bildrate | HDMI: 60 fps bei 3840 × 2160 USB3.0: 30 fps bei 3840 × 2160 / 60 fps bei 1920 × 1080 WLAN: 30 fps bei 3840 × 2160/60 fps bei 1920 × 1080 |
| Messbetrieb | Integriertes On-Monitor-Messsystem + PC-Software-basierte Messung |
| Messgenauigkeit | 0,002-0,005 mm *(Eine kleinere Messtoleranz kann bei höherer Vergrößerung erreicht werden. Ergebnisse Thema je nach Kalibrierung, Vergrößerung und Probenbedingungen)* |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4-fach umschaltbar) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Radius, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung, Automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste |
| Speichermethode | USB-Flash-Laufwerk + PC-Softwarespeicher |
| Bildbenennungsmodus | Automatische oder manuelle Benennung von Bilddateien |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max. 1,4 GHz Hauptsteuerungsprozessor |
| Firmware-Betriebssystem | Unabhängig entwickeltes Messsystem basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Beobachtungskopf | 30° geneigter trinokularer Beobachtungstubus, 360° drehbar, einstellbarer Augenabstand |
| Beobachtungsmethode | Hellfeld / Schräglicht / Durchlicht / einfache Polarisation |
| Beleuchtungssystem | Auflicht- und Durchlicht-Zweistrahl-Beleuchtungssystem, 100–240 V Weitspannung; einstellbar Filamentmitte, stufenlos einstellbare Lichtintensität |
| Ständergestell | Durchlicht- und reflektiertes Rack mit doppeltem Verwendungszweck; koaxialer Grob-Fein-Fokusmechanismus; Grobeinstellung Schlaganfall 33 mm, Feineinstellungsgenauigkeit 0,002 mm mit Arretierung und Endanschlag; Beleuchtung mit Halogenlampen; Hellfeldreflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Farbfilterumwandlung; Ausgestattet mit Blaufilter für Auflichtbeobachtung |
| Mobile Plattform | Doppelschichtiger mechanisch bewegter Tisch; Bühnengröße: 140 × 132 mm; X-Y-Hub: 76 × 50 mm; Glasbühne für übertragene und reflektierte Beobachtung |
| Lichtquelle | 6V-30W Halogenlampe für Auflicht; 6V-30W Halogenlampe für Durchlicht |
| Einfache Polarisation | 30° Polarisatoreinsatz (Auflicht) + 360° drehbarer Analysatoreinsatz für polarisierte Beobachtung |
| Elektronische Schnittstelle | 0,5X C-Mount-Schnittstelle, einstellbarer Fokus [Optional: 1X C-Mount] |
| Okular | High-Eye-Point-Großfeld-Flachfeldokular PL10X/18 mm (ein Okular mit Skalenmarkierung) |
| Metallurgische Objektivlinse | Achromatische metallurgische Flachfeldobjektive mit großem Arbeitsabstand: 5X / 0,13 WD15,5 mm; 10X / 0,25 WD8,7 mm; 20X / 0,40 WD8,8 mm; 50X / 0,60 WD5,1 mm |
| Optische Vergrößerung | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × vierstufig einstellbar |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × vierstufig verstellbar (erweiterbar auf 400-4000 ×) |
GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
NIO Shanghai – Präzisionsinspektion für New-Energy-Autoteile und Kabelbaumbaugruppen
GREE Electric Appliances (Hefei) – Präzisionsmaßmessung und Fehlerprüfung für Haushaltsgerätekomponenten
Huawei Electronics – Wareneingangskontrolle und Qualitätskontrolle in der Produktionslinie für elektronische Komponenten
DOOV – Prüfung der Montage mobiler Geräte, Prüfung des Bildschirms und des Erscheinungsbilds von Komponenten
Linsentechnologie – Mikrofehlererkennung für Glasabdeckplatten und Telefonschutzplatten
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Prüfung und Fehleranalyse optoelektronischer Komponenten
Objektiv & Okular:Wischen Sie die Linsen vorsichtig mit Linsenpapier und Linsenreiniger ab. Berühren Sie niemals optische Geräte Reinigen Sie die Linsen mit bloßen Händen oder verwenden Sie zum Reinigen normale Papiertücher.
Hauptteil und Bühne:Probenreste und metallurgisches Pulver umgehend entfernen. Wischen Sie das Gehäuse mit einem ab trockenes weiches Tuch; Vermeiden Sie Flüssigkeitsspritzer. Überprüfen Sie regelmäßig, ob die Stufenschrauben fest angezogen sind, um ein Verrutschen zu verhindern Kollisionen.
Durchlicht- und Reflexionslichtquelle:Schalten Sie die Lichtquelle aus, wenn das Mikroskop im Leerlauf ist. Schlag Entfernen Sie Staub vom Lichtfenster und berühren Sie die Glühbirne nicht direkt.
Mechanischer Fokusmechanismus:Drehen Sie das Fokushandrad nicht mit übermäßiger Kraft. Gleiten Sie weiter Spuren sauber; Schmieren Sie sie niemals selbst.
Lagerumgebung:An einem trockenen, gut belüfteten Ort aufbewahren, um Feuchtigkeit und Schimmel zu vermeiden. Decken Sie das ab Bewahren Sie das Gerät nach Gebrauch mit einer Staubschutzhülle auf.
Software & Kalibrierung:Kalibrieren Sie die Messskala, bevor Sie Messungen durchführen. Ganz nah Lesen Sie die zugehörige Software, bevor Sie die Stromversorgung unterbrechen. Zerlegen Sie das Gerät nicht ohne Genehmigung; Kontakt After-Sales-Service-Unterstützung bei Störungen.
A1: Visuelle Vergrößerung: 50-500 ×; Elektronische Vergrößerung: 200-2000 ×. Synchrone Beobachtung über Okular und Monitor ist Verfügbar für Routine- und Präzisionsprüfungen.
A2: Es unterstützt HDMI-, USB3.0- und WiFi-Ausgabe. Es kann direkt mit Monitoren und PCs arbeiten oder drahtlos erfolgen Bildschirmprojektion über WiFi-Verbindung.
A3: Es unterstützt 4K-Aufnahmen, Videoaufnahmen und hochpräzise Messungen. Die darauf abgestimmte Software realisiert Tiefenschärfe Stapeln und Zusammenfügen von Bildern. Es unterstützt USB-Flash-Laufwerke und PC-Speicherung, Berichtsexport und Sekundärentwicklung. Geeignet für Metallmetallographie, Späne, Fasern, Pulvermetallurgie, Präzisionselektronikprüfung, wissenschaftlich Forschungs- und Lehrszenarien.
A4: Überprüfen Sie den Status der Stromversorgung und die HDMI-Kabelverbindungen und stellen Sie sicher, dass der Monitor richtig geschaltet ist Signaleingangskanal. Starten Sie den Mikroskop-Host neu. Sollte der Fehler weiterhin bestehen, wenden Sie sich bitte an den Kundendienst.
A5: Ideal für metallografische Analyse, Späne, Präzisionselektronik, Pulvermetallurgie und Faserprüfung. Geeignet für Industrielle Qualitätsprüfung, wissenschaftliche Forschung und Lehrtätigkeit.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde 2011 gegründet, dessen Gründer seitdem Branchenexpertise gesammelt hat 2005 ist ein technologieorientiertes Unternehmen, das sich auf Design, Forschung und Entwicklung, Vertrieb und Kundendienst für die Industrie spezialisiert hat Mikroskope, einschließlich des metallographischen Mikroskops mit hoher Vergrößerung und Autofokus. Unser Kern-Engineering-Team bringt Über zehn Jahre Spezialerfahrung garantieren ausgereifte Technologie und zuverlässige Qualität. Mit mehr als einem hundert Optische Produktmodelle und ein globaler Kundenstamm liefern GAOPIN kontinuierlich maßgeschneiderte, kostengünstige Produkte Mikroskopie Lösungen. Wir bieten schnellen globalen technischen Support durch Online-Konferenzen, videogestützte Anleitung, und Fernschulungen. Unser Produktionsstandort befindet sich in Kunshan, Provinz Jiangsu (in der Nähe von Shanghai). Beides Den Kunden stehen Werksbesichtigungen vor Ort und virtuelle Werksbesichtigungen zur Verfügung. Nehmen Sie gerne Kontakt mit uns auf Beispieltestbilder, die mit diesem 4K-Autofokus-Metallurgiemikroskop GP-L200-462H aufgenommen wurden, um die Bildgebung zu bewerten Leistung aus erster Hand.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
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