Dieses 4K-Ultra-HD-Hochvergrößerungs-Metallurgiemikroskop ist ideal für Materialfehleranalysen und Qualitätsprüfungsabläufe und bietet eine wettbewerbsfähige Hochvergrößerung Metallographisches Mikroskop mit 4K Ultra HD. Duale Betrachtung über binokulare Okulare und externen Monitor ermöglicht praktische Teambewertung. Die drahtlose Datenübertragung kann durch Einstecken eines WLAN-Adapters in den USB-Anschluss realisiert werden. Die gleichmäßige koaxiale Beleuchtung sorgt zusammen mit den Hellfeld- und Dunkelfeldmodi für eine scharfe Sicht auf Körner, Beschichtungen, Risse und andere kleine Mängel. Integrierte Bilderfassungs- und Messanalysefunktionen vereinfachen die Arbeit Inspektionsabläufe. Anti-Vibrations-Gehäuse sorgt für eine gleichbleibende Bildqualität; Upgrade-freundlicher modularer Aufbau Schnitte zukünftige Hardware-Investitionen.
Die 4K-Kamera ist in den trinokularen metallurgischen Rahmen integriert und unterstützt die gleichzeitige Betrachtung mit Okular und Bildschirm. Dual Ausgabe über HDMI + Gigabit-LAN-Anschluss zur Aufnahme von Ultra-HD-Mikrobildern in Echtzeit.
Optische Vergrößerung 50-500 ×, maximale digitale Vergrößerung 2000 ×. Präziser optischer Weg mit professionellem metallurgische Objektive liefern eine scharfe Abbildung von Mikrometalltexturen.
Die integrierte Grob- und Feinfokussierungseinheit sorgt für eine gleichmäßige und stabile Fokussierung und reduziert Bildvibrationen während des Bildes erheblich Beobachtung.
Die aus einem Stück gefertigte Basis aus Aluminiumguss sorgt dafür, dass das Gerät gut ausbalanciert ist und bei der Langzeit-Scheibeninspektion kein Wackeln oder Verrutschen verursacht und Materialbeobachtungsarbeit.
Klassisches weiß-blaues Gehäuse im Forschungsstil mit standardmäßigem trinokularem metallurgischem Layout, sauber und minimalistisch für Labore und Qualitätskontrollwerkstätten.
Geeignet für metallmetallografische Analyse, Halbleiterwafer-Inspektion, Materialfehleranalyse, universitäre Lehr-, Forschungs- und Bauteilqualitätsprüfungsaufgaben.
4K-Foto- und Videoaufnahme (3840 × 2160). Integrierte On-Monitor-Messung und PC-Software-basierte Messung sind möglich verfügbar; Dual-Speicherung über USB-Flash-Laufwerk und Computer. Aus praktischen Gründen wird die Sekundärentwicklung unterstützt Bildarchivierung, Vergleich und detaillierte Datenanalyse.
Binokulare Beobachtung und synchrone elektronische Beobachtung:Synchronisierte Anzeige zwischen Okular und überwachen. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur die Betrachtung mit dem Okular; Es ist zusätzliches Kamerazubehör erforderlich für die Bildschirmausgabe.
4K-Ultra-High-Definition-Bildgebung:3840 × 2160 4K-Auflösung für die Wiedergabe feiner Mikrostrukturen. Gängige metallurgische Kameras haben meist 1080P mit eingeschränkter Klarheit.
Dual-Output-Schnittstellen:HDMI + Gigabit-LAN-Anschluss. Normalerweise nur traditionelle metallurgische Geräte Anschluss an einen PC ohne Netzwerkanschluss zur Geräteintegration.
Duale Messmodi:Integrierte Offline-Messung auf dem Monitor plus PC-Software-basierte Messung. Gewöhnliche metallurgische Mikroskope unterstützen nur PC-seitige Messungen ohne in die Hardware eingebettete Messfunktion.
Dual-Speichermodi:Offline-Speicherung von USB-Flash-Laufwerken und PC-Softwarespeicherung; Datenspeicherung möglich mit oder ohne Computer. Herkömmliche Modelle erfordern einen PC zum Speichern der Bilder.
Unterstützte Sekundärentwicklung:Der Gigabit-LAN-Anschluss ermöglicht die Systemintegration für Automatisierung-Produktionslinienbereitstellung. Allgemeine metallurgische Mikroskope unterstützen keine Sekundärentwicklung Integration.
Spezieller metallurgischer optischer Pfad:Optimiert für die Analyse von Metall, Beschichtung und Kornstruktur. Herkömmliche Digitalmikroskope haben keinen speziellen metallurgischen optischen Pfad und können keine metallurgischen Untersuchungen durchführen Mikrostrukturen.
Ausgestattet mit einer nativen 4K (3840 × 2160) Industriekamera und professionell mit Standard kalibriert Bei metallurgischen Prüfkörpern erzeugt das System ultraklare, gleichmäßig fokussierte Bilder. Es stellt präzise wieder her kompliziert Mikrostrukturen einschließlich Korngrenzen, geschichtete Beschichtungen und Mikrobrüche mit gleichbleibender Schärfe aus Mitte bis Rand.
Konfiguriert mit mehreren achromatischen metallurgischen Objektiven für Mikroanalysen mit hoher Vergrößerung. Die Doppelansicht Das trinokulare Design unterstützt die synchrone Okularbetrachtung und die digitale Monitoranzeige und passt perfekt in den Industriebereich Szenarien wie die Identifizierung von Metallmaterialien, die Prüfung der Schichtdicke und die Einstufung der Kornqualität.
Der integrierte professionelle Messalgorithmus ermöglicht die Datenüberlagerung auf dem Bildschirm und eine hohe Präzision Metallurgische Messung. Es deckt mehrere Schlüsselindikatoren ab, darunter Beschichtungsdicke, Kornlänge, Rissbreite und Zwischenschichtabstand. während Unterstützung von Echtzeitanmerkungen, Bildarchivierung und Testdatenexport. Kompatibel mit Tiefenschärfe-Stacking und Bild-Stitching-Funktionen.
Die Zweiweg-Durchlicht- und Auflichtbeleuchtung garantiert eine qualifizierte Beleuchtung für verschiedene Probentypen. Die Der hochpräzise bewegliche Tisch gewährleistet eine flexible und präzise Feldpositionierung. Effektiv verstärktes Vollmetallgehäuse eliminiert Vibrationen und liefert eine konstante Leistung für die Chargenmaterialerkennung über einen langen Zeitraum.
Halbleiter- und elektronische Komponenten:IC-Chips, Siliziumwafer, Fotolithografiescheiben, PCB Platinen, flexible FPC-Platinen, Lötverbindungen, Stifte. Inspektionsziele: Beobachten Sie interne Chip-Schaltkreise, Wafer Beschichtungen, Kaltlötfehler, Oxidation, Schaltkreiskratzer und Pinverformung; Analysieren Sie Mikroschichtstrukturen unter maximaler 2000-facher Vergrößerung.
Metallmaterialien und metallografische Proben:Metallografische Scheiben, Beschläge aus geprägtem Metall. Inspektionsziele: Metallografische Kornstrukturanalyse, Wärmebehandlungsmaterialidentifizierung; erkennen Kantenausbrüche, Mikrorisse, Grate und Abriebtiefe.
Optoelektronische LED- und Kunststoffformteile:LED-Chips, optische Kunststoffteile, Spritzguss und Stanzteile Produkte. Inspektionsziele: Inspektion von winzigen Kerben, Oberflächenflecken, rauen Kanten, Mikrofremdpartikeln, Kleber-Delamination und Versiegelung von Mikrodefekten.
Hochpräzise Miniaturbauteile:Steckverbinder, Klemmen, Mikrofedern, winzige gestanzte Werkstücke. Inspektionsziele: Beobachten Sie kleine Lücken und die Flachheit des Crimps. Führen Sie eine präzise Längenmessung auf Pixelebene durch. Lochdurchmesser und Teilung.
Archivierung der Qualitätskontrolle im Labor und in der Industrie:Metallographische-Scheibenexperiment-Analyse, Wareneingangs- und Fertigwaren-Stichprobenkontrolle; Foto- & Videoarchivierung für beweisdefizitäre Aufzeichnungen und Export von QC-Berichten zu formalen Messungen.
Die optische Vergrößerung reicht von 50 × bis 500 ×, die maximale digitale Vergrößerung bis zu 2000 ×, mit nativem 3840 × 2160 4K Auflösung. Es zeigt deutlich metallografische Texturen, Chipbeschichtungen und winzige Körner an, ideal für die Mikroanalyse Metallmetallographische Strukturen, Wafer, Beschichtungen und Pulvermaterialien für Materiallabore und Halbleiterannahme- Inspektion.
Der trinokulare Strahlengang ermöglicht die gleichzeitige Betrachtung über binokulare Okulare und Monitor. Mehrere Betreiber können überprüfen Mikroproben zusammen, perfekt für die Universitätsausbildung und die Doppelprüfung von Mängeln in Fabriken.
Ausgestattet mit HDMI- und Gigabit-LAN-Anschlüssen. HDMI verbindet Monitor zur Anzeige vor Ort; LAN-Port unterstützt lokales Netzwerk Zugriff für Fernbildzugriff und synchrone Mehrstationsüberwachung zur Realisierung einer zentralen Geräteverwaltung für Großlabore.
Zwei Messlösungen: integrierte Messung auf dem Monitor und PC-Software-basierte Messung. Zwei Speichermöglichkeiten: USB Speicherung auf Flash-Laufwerken und Computerarchivierung. Messdaten und 4K-Bilder können für QC-Berichte exportiert werden Gerät unterstützt die Sekundärentwicklung für die Integration in die Produktionslinie.
Der standardmäßige metallurgische Tisch mit mehreren Objektivlinsen eignet sich für Metallproben, Wafer, Beschichtungsscheiben usw Mikroelektronische Teile. Präzise koaxiale grobe und feine manuelle Fokussierung mit stabilem Gehäuse, weit verbreitet im Unterricht, Wareneingangskontrolle und Neumaterialrecherche.
Der Versand in neutraler Verpackung ist auf Anfrage möglich.
| Juristische Person | Beschreibung |
| Produkt | GP-L200-324K 4K-Metallographiemikroskop mit hoher Vergrößerung und 4K Ultra HD |
| Kategorie | Industrielles trinokulares 4K-Metallographie-Inspektions- und Messmikroskop mit hoher Vergrößerung |
| Kerntechnologien | Trinokulares optisches Synchronbeobachtungssystem, professionelle metallurgische Objektivgruppe, 4K Ultrahochauflösende CMOS-Bildgebung, Dual-Digital-Mess-Engine (Bildschirm und PC-Software), HDMI + Gigabit-LAN-Dual-Signalübertragung, Dual-Storage-Technologie, Unterstützung offener Systeme Sekundärentwicklung |
| Wichtige Spezifikationen | Visuelle Vergrößerung: 50/100/200/500 ×; Elektronische Vergrößerung: 200/400/800/2000 ×; Dual-Ausgang: HDMI + Gigabit-LAN; 4K-Aufnahmeauflösung 3840 × 2160; Manuelle Fokussierung; Duale Messmodi: integriert Messung am Gerät + Messung mit professioneller PC-Software *(0,001 mm, kleinere Messtoleranz kann bei höherer Vergrößerung erreicht werden. Ergebnisse unterliegen der Kalibrierung, Vergrößerung und Probe Bedingungen)*; Dual-Speicher: lokaler USB-Flash-Laufwerkspeicher + Computerdateispeicher; Monitor-Terminal unterstützt Bildvorschau, Dimensionsmessung, Fotoaufnahme und Dateispeicherung; PC-Terminal-Unterstützung Messung und Bildarchivierung, kompatibel mit Sekundärentwicklungsintegration |
| Typische Anwendungen | Metallmetallographische Strukturanalyse, Legierungskorn- und Materialtexturbeobachtung, Schichtdickenmessung, Halbleiterwafer-Detektion, PCB-Querschnittsprüfung, Präzisions-Hardware-Fehleranalyse, Universitätslabor-Materialforschung, neue-energie-material-qualität- testen |
| Hersteller | Kunshan Gaopin Präzisionsinstrument Co., Ltd. |
| Standort des Herstellers | Kunshan, Jiangsu, China (in der Nähe von Shanghai) |
| Produktmarke | GAOPIN |
| Produktmodell | GP-L200-324K |
| Auflösung | 3840 × 2160 (4K) |
| Effektive Pixel | 8,3 Megapixel |
| Fokussierungsmethode | Manueller Fokus (koaxiale Grob- und Feineinstellung) |
| Optisches Sensorformat | 1/1,7" |
| Pixelgröße | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Ausgabeschnittstellen | HDMI + Gigabit-LAN |
| Bildrate | HDMI: 60 fps bei 3840 × 2160 LAN-Port: 20 fps bei 1920 × 1080 |
| Messbetrieb | Integriertes On-Monitor-Messsystem + PC-Software-basierte Messung |
| Messgenauigkeit | 0,001 mm *(Eine kleinere Messtoleranz kann bei höherer Vergrößerung erreicht werden. Ergebnisse vorbehalten Kalibrierung, Vergrößerung und Probenbedingungen)* |
| Maßeinheiten | mm / μm / mil / Zoll (4-fach umschaltbar) |
| Messwerkzeuge | Länge, Winkel, Radius, Kreis, Polygon, Polylinie, Mittelpunkt-zu-Mittelpunkt-Abstand, Rechteck, Anmerkung, Automatische Kantenerkennung, Maßstabsleiste |
| Speichermethode | USB-Flash-Laufwerk + PC-Softwarespeicher |
| Bildbenennungsmodus | Automatische oder manuelle Benennung von Bilddateien |
| Anzeigesprache | Vereinfachtes Chinesisch / Englisch (umschaltbar) |
| Prozessor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max. 1,4 GHz Hauptsteuerungsprozessor |
| Firmware-Betriebssystem | Unabhängig entwickeltes Messsystem basierend auf dem Linux 3.1-Kernel |
| Beobachtungskopf | 30° geneigter trinokularer Beobachtungstubus, 360° drehbar, einstellbarer Augenabstand |
| Beobachtungsmethode | Hellfeld / Schräglicht / Durchlicht / einfache Polarisation |
| Beleuchtungssystem | Auflicht- und Durchlicht-Zweistrahl-Beleuchtungssystem, 100–240 V Weitspannung; einstellbar Filamentmitte, stufenlos einstellbare Lichtintensität |
| Ständergestell | Durchlicht- und reflektiertes Rack mit doppeltem Verwendungszweck; koaxialer Grob-Fein-Fokusmechanismus; Grobeinstellung Schlaganfall 33 mm, Feineinstellungsgenauigkeit 0,002 mm mit Arretierung und Endanschlag; Beleuchtung mit Halogenlampen; Hellfeldreflektor mit variabler Aperturblende, Feldblende und Farbfilterumwandlung; Ausgestattet mit Blaufilter für Auflichtbeobachtung |
| Mobile Plattform | Doppelschichtiger mechanisch bewegter Tisch; Bühnengröße: 140 × 132 mm; X-Y-Hub: 76 × 50 mm; Glasbühne für übertragene und reflektierte Beobachtung |
| Lichtquelle | 6V-30W Halogenlampe für Auflicht; 6V-30W Halogenlampe für Durchlicht |
| Einfache Polarisation | 30° Polarisatoreinsatz (Auflicht) + 360° drehbarer Analysatoreinsatz für polarisierte Beobachtung |
| Elektronische Schnittstelle | 0,5X C-Mount-Schnittstelle, einstellbarer Fokus [Optional: 1X C-Mount] |
| Okular | High-Eye-Point-Großfeld-Flachfeldokular PL10X/18 mm (ein Okular mit Skalenmarkierung) |
| Metallurgische Objektivlinse | Achromatische metallurgische Flachfeldobjektive mit großem Arbeitsabstand: 5X / 0,13 WD15,5 mm; 10X / 0,25 WD8,7 mm; 20X / 0,40 WD8,8 mm; 50X / 0,60 WD5,1 mm |
| Optische Vergrößerung | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × vierstufig einstellbar |
| Elektronische Vergrößerung | Ca. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × vierstufig verstellbar (erweiterbar auf 400-4000 ×) |
GAOPIN-Mikroskope werden von führenden Unternehmen, Forschungsinstituten und Universitäten eingesetzt. Unsere Zusammenarbeit Beziehungen umfassen:
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- und Mikrofehlererkennung für Präzisionsbearbeitung Teile
Forschungsinstitut für Physikalische und Chemische Technik der Kernindustrie – Mikromorphologie-Beobachtung & Präzisions-Komponentenanalyse von Sonderwerkstoffen
DOOV – Prüfung der Montage mobiler Geräte, Prüfung des Bildschirms und des Erscheinungsbilds von Komponenten
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Advanced-optical-research & Charakterisierung optischer Komponenten
Tsinghua-Universität – Lehre, Laborbildgebung und experimentelle Datenarchivierung
Beijing Institute of Technology – Wissenschaftliche Forschungsanalyse für militärische Materialien und Optoelektronische Geräte
Objektiv & Okular:Wischen Sie die Linsen vorsichtig mit Linsenpapier und Linsenreiniger ab. Berühren Sie niemals optische Geräte Reinigen Sie die Linsen mit bloßen Händen oder verwenden Sie zum Reinigen normale Papiertücher.
Hauptteil und Bühne:Probenreste und metallurgisches Pulver umgehend entfernen. Wischen Sie das Gehäuse mit einem ab trockenes weiches Tuch; Vermeiden Sie Flüssigkeitsspritzer. Überprüfen Sie regelmäßig, ob die Stufenschrauben fest angezogen sind, um ein Verrutschen zu verhindern Kollisionen.
Durchlicht- und Reflexionslichtquelle:Schalten Sie die Lichtquelle aus, wenn das Mikroskop im Leerlauf ist. Schlag Entfernen Sie Staub vom Lichtfenster und berühren Sie die Glühbirne nicht direkt.
Mechanischer Fokusmechanismus:Drehen Sie das Fokushandrad nicht mit übermäßiger Kraft. Gleiten Sie weiter Spuren sauber; Schmieren Sie sie niemals selbst.
Lagerumgebung:An einem trockenen, gut belüfteten Ort aufbewahren, um Feuchtigkeit und Schimmel zu vermeiden. Decken Sie das ab Bewahren Sie das Gerät nach Gebrauch mit einer Staubschutzhülle auf.
A1: Es bietet eine 50- bis 500-fache visuelle Vergrößerung und eine 200- bis 2000-fache elektronische Vergrößerung. Okular und Monitor Die Synchronbeobachtung steht für Routine- und Präzisionsprüfungen zur Verfügung.
A2: Es unterstützt HDMI-Videoausgabe und Gigabit-LAN-Port-Verbindung. Es kann unabhängig mit einem Monitor arbeiten oder angeschlossen werden zu einem PC über LAN zur Bildübertragung und Softwaresteuerung.
A3: Es unterstützt 4K-Aufnahmen, Videoaufnahmen und hochpräzise Messungen. Die darauf abgestimmte Software realisiert Tiefenschärfe Stapeln und Zusammenfügen von Bildern. Es unterstützt USB-Flash-Laufwerke und PC-Speicherung, Berichtsexport und Sekundärentwicklung.
A4: Unscharfe Bilder werden durch unebene Proben, starke Vergrößerung, verstaubte Linsen oder falsche Fokussierung verursacht. Proben glätten, reduzieren Stellen Sie die Vergrößerung ein, reinigen Sie das Objektiv und stellen Sie den Fokus für eine klare Abbildung ein.
A5: Kein HDMI-Bild: Überprüfen Sie die Stromversorgung, die Kabelverbindung und die Monitorsignalquelle und starten Sie dann das Gerät neu. LAN-Verbindung- Fehler: PC und Gerät im selben Netzwerksegment belassen, Firewall ausschalten und IP-Einstellungen überprüfen.
A6: Ideal für metallografische Analyse, Späne, Präzisionselektronik, Pulvermetallurgie und Faserprüfung. Geeignet für Industrielle Qualitätsprüfung, wissenschaftliche Forschung und Lehre.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. wurde 2011 gegründet, dessen Gründer seitdem Branchenexpertise gesammelt hat 2005 ist ein technologieorientiertes Unternehmen, das sich auf Design, Forschung und Entwicklung, Vertrieb und Kundendienst für die Industrie spezialisiert hat Mikroskope. Unser Kern-Engineering-Team verfügt über mehr als zehn Jahre Facherfahrung und stellt so eine ausgereifte Technologie sicher und zuverlässige Qualität. Mit mehr als hundert optischen Produktmodellen und einem globalen Kundenstamm ist GAOPIN kontinuierlich tätig liefert maßgeschneiderte, kostengünstige Mikroskopielösungen. Wir bieten schnellen globalen technischen Support durch Online-Konferenzen, videogestützte Anleitung und Fernschulungen. Unser Produktionsstandort befindet sich in Kunshan, Provinz Jiangsu (in der Nähe von Shanghai). Es stehen sowohl Werksbesichtigungen vor Ort als auch virtuelle Werksbesichtigungen zur Verfügung Kunden. Kontaktieren Sie uns gerne für Beispieltestbilder, die mit diesem GP-L200-324K 4K mit hoher Vergrößerung aufgenommen wurden metallographisches Mikroskop mit 4K Ultra HD, um die Abbildungsleistung aus erster Hand zu bewerten.
Adresse
Gebäude 2, Shuanglian International Business Center, Stadt Huaqiao, Stadt Kunshan, China
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